[发明专利]对点测量装置在审
申请号: | 201410529776.2 | 申请日: | 2014-10-09 |
公开(公告)号: | CN104344779A | 公开(公告)日: | 2015-02-11 |
发明(设计)人: | 邹春英;王佳;袁征 | 申请(专利权)人: | 常州西夏墅工具产业创业服务中心 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 肖兴江 |
地址: | 213000 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 | ||
技术领域
本发明创造涉及一种测量装置,特别指出一种测量两点之间长度的对点测量装置。
背景技术
传统的点与点的测量一般通过直尺直接测量,对于同一平面上的点与点之间的距离测量使用直尺较为直接和方便,但是对于处于不同平面的,尤其是处于凹陷内的点与点之间的距离,使用直尺就无法直接得出距离。
发明创造内容
本发明创造的目的是提供一种对点测量装置,能够测量两点之间的直线距离,尤其适用于测量环境较为复杂的地方。
实现本发明创造目的的技术方案如下:
对点测量装置,包括半圆框架、调整杆和定点顶针,所述的半圆框架至少有两个,所述的调整杆至少有两个,所述的调整杆通过通孔与半圆框架连接,调整杆底部还设有凹陷孔,所述的定点顶针插在凹陷孔内,所述的调整杆上还设有紧固螺丝,所述的紧固螺丝分别位于调整杆与半圆框架的交叉处和调整杆底部,位于调整杆与半圆框架交叉处的紧固螺丝穿透通孔壁并抵住半圆框架,位于调整杆底部的紧固螺丝穿透调整杆连通凹陷孔,所述的半圆框架的横轴上设有刻度尺。
进一步的,所述的定点顶针中间位置设有圆环挡沿。
采用上述结构后,本发明创造提出的对点测量装置通过半圆框架和调整杆的配合,所述的调整杆在半圆框架上移动,调整杆能进入到复杂的环境中测出两点之间的距离,具有实用性。
附图说明
图1为本发明创造的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明创造实施方式作进一步地详细描述:
对点测量装置,包括半圆框架1、调整杆2和定点顶针3,所述的半圆框架1至少有两个,所述的调整杆2至少有两个,所述的调整杆2通过通孔与半圆框架1连接,调整杆2底部还设有凹陷孔4,所述的定点顶针3插在凹陷孔4内,所述的调整杆2上还设有紧固螺丝5,所述的紧固螺丝5分别位于调整杆2与半圆框架1的交叉处和调整杆2底部,位于调整杆2与半圆框架1交叉处的紧固螺丝5穿透通孔壁并抵住半圆框架1,位于调整杆2底部的紧固螺丝5穿透调整杆连通凹陷孔4,所述的半圆框架1的横轴上设有刻度尺6,所述的定点顶针3中间位置设有圆环挡沿7。
其使用过程也简单方便:将所述的定点顶针插入到调整杆底部的凹陷孔内,旋转底部的紧固螺丝,使得定点顶针与调整杆连接在一起,所述的半圆框架一方面提供调整杆的移动位置,和通过横杆上的刻度测算出移动距离,同时另一方面提供手持位置。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州西夏墅工具产业创业服务中心,未经常州西夏墅工具产业创业服务中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410529776.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多用档案扫描装置
- 下一篇:补充照明的折叠拍摄仪