[发明专利]非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种盲元校正方法，尤其涉及一种非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法。

背景技术

具有轻巧便携和良好性价比的非制冷红外焦平面成像系统是未来夜视仪器发展的方向之一。为了获得更多的辐射能量，红外光学系统一般设计为大相对口径系统，这就不可避免的造成光学上像差校正的困难，进而导致红外图像的集合畸变。另外，非制冷红外焦平面阵列属于大面阵的探测器，由于制作器件的半导体的材料的不一致性，掩模误差、缺陷、工艺等因素影响，其信号输出幅度会出现不均匀的现象，每个像元的响应度不一致，有些甚至是完全失效的单元(盲元)。

盲元是指器件中响应过高和过低的探测器单元，红外焦平面器件中盲元的数量及其分布对器件性能的影响很大，如果盲元过多，在未经任何响应处理的红外成像系统输出图像中将出现大量的亮点和暗点，使得输出图像的视觉效果很差，必须通过一定的处理技术加以纠正，通过盲元补偿提出过亮或过暗的像元，提高红外焦平面的成像质量，具有很高的应用价值和意义。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能够对盲元位置的信息进行替代，并且可提高盲元替换后的图像效果，实现简单，实时性强的非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法。

本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：

非制冷红外焦平面探测器盲元校正方法，它包括以下步骤：

S1：对图像进行检测，在有盲元的地方作标记；

S2：计算盲元点3*3窗口灰度的平均值；

S3：将得到的平均值作为本盲元的输出。

所述步骤S2中若有连续的盲元存在，则周边盲元不进行统计，只统计正常像素点的平均值。

所述步骤S2中盲元点3*3窗口灰度平均值的公式为：

Pij,=Σi=13Σj=13Aij*Fij*PijΣi=13Σj=13Aij*Fij;]]>

其中，F_ij为像素坐标为(i，j)的盲元标记，如果Fij为0表示盲元，Fij为1表示正常像元，P_ij为像素坐标(i，j)对应的灰度值，A_ij为各像素点的贡献因子，贡献因子A_ij是可配置的。

本发明的有益效果是：本发明中在有盲元的地方作标记，作为查找表存放在RMA中，每次图像处理时可以省去盲元检测的时间，并且有连续的盲元存在时，不统计周边盲元，只统计正常像素点的平均值，降低了工作量，提高了校正效率，同时贡献因子具有可配置性，方便灵活使用，该放法实现简单，实时性强。

附图说明

图1为本发明的流程图。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案，但本发明的保护范围不局限于以下所述。

本实施例中P22为盲元，该点的3x3窗口如表1所示，

表1