[发明专利]太阳能电池组件局部光学性能测试方法与装置在审
| 申请号: | 201410510007.8 | 申请日: | 2014-09-28 |
| 公开(公告)号: | CN104241160A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
| 发明(设计)人: | 屠智革;曹艳平;许靖琨;张军;李道云 | 申请(专利权)人: | 中国建材国际工程集团有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
| 代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人: | 王法男 |
| 地址: | 200061 上海市普*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 太阳能电池 组件 局部 光学 性能 测试 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池组件局部光学性能测试方法与装置。
背景技术
我国有丰富的太阳能资源。太阳能电池利用半导体光生伏特效应做成半导体器件,被广泛地应用于宇宙航空、发电站、光伏建筑、通讯、照明等领域。
太阳能电池组件是太阳能电池发电系统中的核心部分,它由几十个、数百个太阳能电池组件单元串联、并联组成。采用一定的光照方式,便可以获得相当可观输出功率的电能。
太阳能电池组件需要采用光学测试来检测太阳能电池组件中的缺陷并测量太阳能电池组件的光学性能。现有的光学测试装置仅仅是局限在太阳能电池组件的整体光学性能,而不能对太阳能电池组件的局部(太阳能电池组件单元)光学性能进行测试。
因此,需要更简单、可靠、有效的装置来测试太阳能电池组件单元。从而针对局部性能较差的单元来作后续制备太阳能电池组件相应的工艺调整,最终提高后续生产的整体的太阳能电池组件光学系能。
发明内容
本发明旨在提供更简单、可靠、有效的装置和方法来测试太阳能电池组件单元。
为了达成上述目的,本发明的一个方面为一种太阳能电池组件局部光学性能测试装置,包括固定待测太阳能电池组件的镂空网状结构件,镂空区域,遮挡板,设于所述镂空网状结构件内的内支撑遮挡板的支撑件和扶手,其中所述镂空网状结构件根据待测太阳能电池组件定制,以使得每块太阳能电池组件单元均有一一对应的所述镂空区域。
一些实施例中,所述镂空网状结构件的每块所述镂空区域的尺寸等于或略大于相对应的待测太阳能电池组件单元的尺寸。一些实施例中,所述遮挡板的尺寸等于或略小于相对应的镂空网状结构件的单块镂空区域尺寸。一些实施例中,所述支撑件焊接于所述镂空网状结构件的单块所述镂空区域的四个底角,所述支撑件的底面与所述镂空网状结构件的底面平齐,并能托住所述遮挡板。
一些实施例中,当所述遮挡板镶嵌于所述镂空网状结构件的单块所述镂空区域时,所述遮挡板的上表面与所述镂空网状结构件的支撑所述太阳能电池组件的部分处于一个平面。
一些实施例中,所述镂空网状结构件的边框两侧分别设2个扶手。
一些实施例中,形成所述镂空网状结构件,所述遮挡板,所述镂空网状结构件内的支撑所述遮挡板的所述支撑件和扶手的材料的强度足以支撑所述太阳能电池组件。
本发明的另一方面为一种太阳能电池组件局部光学性能测试方法,包括如下步骤:当需要测量某块或多块太阳能电池组件单元的光学性能时,找到与之对应的镂空区域;在除该镂空区域不覆盖遮挡板外,其它所有地方均覆盖所述遮挡板;采用机械手或人工抬板的方式将待测太阳能电池组件放置于如权利要求1所述的测试装置内;及将装有所述待测太阳能电池组件的该测试装置放置于配有光学测试系统的测试台上方进行测试。
与现有技术相比采用本发明能简单、可靠、有效地测量待测太阳能电池组件的任何一块或多块(包括全部)太阳能电池组件单元。通过检测太阳能电池组件单元的光学性能,可以有效评估太阳能电池工艺的设计缺陷,从而在后续工艺的设计进行改良。
以下结合附图,通过示例说明本发明主旨的描述,以清楚本发明的其他方面和优点。
附图说明
结合附图,通过下文的详细说明,可更清楚地理解本发明的上述及其他特征和优点,其中:
图1是本发明最优实施例的空载遮挡板的结构示意图;
图2是本发明最优实施例的满载遮挡板的结构示意图;
图3是本发明最优实施例的测量太阳能电池组件局部光学性能的结构示意图;
图3A是如图3所示本发明最优实施例的测量太阳能电池组件局部光学性能的结构的沿A-A线横剖面示意图;
图3B是如图3所示本发明最优实施例的测量太阳能电池组件局部光学性能的结构的沿B-B纵剖面示意图;
其中:镂空网状结构件1;遮挡板2;镂空网状结构件内支撑遮挡板的支撑件3;太阳能电池组件4;镂空区域5;扶手6
具体实施方式
参见本发明具体实施例的附图,下文将更详细地描述本发明。然而,本发明可以以许多不同形式实现,并且不应解释为受在此提出之实施例的限制。相反,提出这些实施例是为了达成充分及完整公开,并且使本技术领域的技术人员完全了解本发明的范围。
现参考附图,详细说明根据本发明实施例的太阳能电池组件局部光学性能测试装置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





