[发明专利]非易失性存储器装置及其抹除方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种非易失性存储器装置及其抹除方法。且特别涉及一种能够抹除配置在相同的井区的存储器区块中的至少其中一个的非易失性存储器装置。

背景技术

在现有技术，当在快闪存储器装置执行抹除操作，所有配置在相同的井区的存储器区块必须同步地抹除。请参照图1A，快闪存储器装置110包括存储器区块0MS0以及存储器区块1MS1，区块0选择器SSD0以及区块1选择器SSD1。区块0选择器SSD0对应于存储器区块0MS0，以及区块1选择器SSD1对应于存储器区块1MS1。存储器区块0MS0及存储器区块1MS1分别配置在不同的井区。区块0选择器SSD0配置在存储器区块0MS0及存储器区块1MS1之间，用以分离存储器区块0MS0及存储器区块1MS1。当在快闪存储器装置110执行抹除操作，存储器区块0MS0以及存储器区块1MS1的至少其中一个被选择以进行抹除动作，且被选择的存储器区块内所有的存储器胞同步地被抹除。也就是说，在现有技术中，抹除存储器区块0MS0或存储器区块1MS1的一部分的存储器胞是不可能的，因此，小尺寸存储器区块抹除功能无法在快闪存储器装置100实现。

另一方面，为了达到小尺寸存储器区块抹除的目的，图1B绘示另一现有技术快闪存储器装置120。图1A的存储器区块0MS0可分割为图1B的存储器区块01MS01及存储器区块02MS02，且图1A的存储器区块1MS1可分割为图1B的存储器区块11MS11及存储器区块12MS12。此外，存储器区块MS01～MS12可分别配置在四个不同的井区，且两个区块选择器SSD01与SSD02以及两个区块选择器SSD11与SSD12是必要的。区块01选择器SSD01对应于存储器区块01MS01，区块02选择器SSD02对应于存储器区块02MS02，区块11选择器SSD11对应于存储器区块11MS11，区块12选择器SSD12对应于存储器区块12MS12。也就是说，对应快闪存储器装置120的井区的数量以及区块选择装置的增加，进而使得快闪存储器装置120的芯片尺寸增加。

发明内容

本发明的目标为一种非易失性存储器装置及其抹除方法，其可抹除配置在相同的井区的多个存储器区块中的其中一个。

本发明提供一种非易失性存储器装置。所述非易失性存储器装置包括多个第一存储器区块及控制电压提供器。第一存储器区块配置在第一井区，其中，各第一存储器区块包括多个存储器胞以分别接收多个控制线信号。控制电压提供器耦接至第一存储器区块以提供控制线信号至各第一存储器区块的存储器胞。当执行抹除操作，第一存储器区块的其中一个被选择以进行抹除动作，且控制电压提供器提供具有抹除控制电压的控制线信号至被选择的存储器区块，以及提供具有非抹除控制电压的控制线信号至未被选择的存储器区块，抹除控制电压及非抹除控制电压的电压电平相异。

本发明也提供一种非易失性存储器装置的抹除方法。所述抹除方法的步骤包括：提供多个控制线信号至所述非易失性存储器装置的各多个第一存储器区块的多个存储器胞，其中第一存储器区块配置在第一井区；当执行抹除操作，选择第一存储器区块的其中一个进行抹除动作；提供具有抹除控制电压的控制线信号至被选择的存储器区块；以及提供具有非抹除控制电压的控制线信号至未被选择的存储器区块，其中抹除控制电压以及非抹除控制电压的电压电平为相异。

综上所述，本发明的抹除操作可执行于多个存储器区块配置于相同的井区的多个存储器区块中的一个或部分。考虑到小尺寸存储器区块抹除功能，存储器区块不必要配置大量的记忆胞(memory cell)。对应地，根据现有技术的应用非易失性存储器装置不必要设有分离晶体管。使得非易失性存储器装置的芯片尺寸可减少。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1A及图1B为既有快闪存储器的示意图。

图2为根据本发明的实施例的非易失性存储器装置200的方块图。

图3A为根据本发明的另一实施例的非易失性存储器装置300的方块图。

图3B为根据本发明图3A的实施例的区块选择装置的方块图。

图4为根据本发明的实施例的控制电压提供器的电路图。

图5为根据本发明的另一实施例的控制电压提供器的电路图。

图6为根据本发明的另一实施例的非易失性存储器装置600的方块图。

图7为根据本发明的实施例的用于非易失性存储器装置的抹除方法的流程图。

【符号说明】