[发明专利]一种大气颗粒物PM2.5数密度检测的方法有效

专利信息
申请号: 201410505431.3 申请日: 2014-09-26
公开(公告)号: CN104297115B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 邹波 申请(专利权)人: 深圳职业技术学院
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙)44248 代理人: 张立娟
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 大气 颗粒 pm2 密度 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种大气颗粒物PM2.5数密度检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:

步骤1:含有多种粒径颗粒物的被测空气,经过不同孔径的过滤器分离后,形成一股含有PM2.5及更小颗粒物的气流,并进入气体测试室;

步骤2:在气体测试室中,用激光光源输出的红外光照射被测气流,一部分红外光与气流中颗粒物发生散射,形成散射光,另一部分红外光不与颗粒物发生散射,直接穿透被测气流,形成穿透光,采用光学部件,将散射光和穿透光汇聚在一起;

步骤3:汇聚在一起的散射光和穿透光,发生干涉效应,并输出干涉光;

步骤4:采用光电探测器测量以上干涉光的强度信号,其包含各散射光的自相关强度、穿透光的自相关强度、散射光与穿透光之间的互相关强度、各散射光之间的互相关强度四项内容,该干涉光的强度信号是随机信号,其概率分布密度函数与形成散射光的颗粒子总数目N相关;

步骤5:用A/D转换器对以上的干涉光总强度信号,以采样周期为T,进行离散化抽样,得到抽样信号序列y(n),用y(n)表示在nT时刻的抽样信号,n为正整数;

步骤6:为了从被噪声污染的抽样信号中,恢复出原始的干涉光强信号,采用递推最小二乘RLS算法,设计一个M阶的自适应FIR滤波器,对抽样信号y(n),按下式进行滤波:

x(n)=Σi=0M-1wi(n)y(n-i)=WT(n)Y(n)=YT(n)W(n)]]>

其中,wi(n)为nT时刻的M阶FIR滤波器滤波系数,i=0,1,...,M-1,W(n)为nT时刻滤波系数向量:W(n)=[w0(n),...,wM-1(n)]T,而x(n)为滤波后的信号序列,x(n)可视为在nT时刻的原始的干涉光强信号估计值,Y(n)为nT时刻所对应的信号向量,该向量由M个抽样信号组成,其如下:

Y(n)=[y(n),y(n-1)...,y(n-M+1)]T

WT(n)、YT(n)分别为W(n)和Y(n)的转置:

WT(n)=[w0(n),...,wM-1(n)],YT(n)=[y(n),y(n-1),...,y(n-M+1)];

步骤7:设滤波后的信号序列x(n)的序号指针为n0,从n0=0开始,连续取最前面的二段长度为L的信号,L为正整数,用信号向量X1、X2表示:

X1=[x(1),...,x(L)]T

X2=[x(L+1),...,x(2L)]T

X1、X2分别对应在[0-LT]、[LT-2LT]时间内的干涉光强度信号,分别是信号X1、X2的转置形式:

X1T=[x(1),...,x(L)]

X2T=[x(L+1),...,x(2L)]

按下式,计算X1、X2的平均值:

X1=(Σk=1Lx(k))/L]]>

X2=(Σk=1Lx(L+k))/L]]>

L,M均为正整数,且L>M;

步骤8:按下式,计算X1、X2的方差:

σ12=Σk=1L[x(k)-X1]2]]>

σ22=Σk=1L[x(L+k)-X2]2]]>

σ12和σ22分别对应在[0-LT]和[LT-2LT]时间内的干涉光强度的涨落:

步骤9:根据干涉光强度在[0-LT]、[LT-2LT]时间内的平均值和方差:

σ12、σ22,建立以下的参数C1、C2的矩阵方程:

A0C1C2=b(0),]]>其中,A0=2X1σ12-2σ122X2σ22-2σ22,]]>b(0)=11,]]>C1=a2,C2=a4N]]>

a2为粒子散射光的总光强,N为形成散射光的粒子总数目,将C1、C2称为系统参数,这里假设,a2和N在[0-LT]和[LT-2LT]时间内保持不变,因此,在此时间内,系统参数C1、C2近似是一组常量;

步骤10:通过以上方程的最小二乘解,得到[0-LT]和[LT-2LT]时间内的系统参数C1和C2的估计值:

C1C2=P0A0Tb(0),]]>其中,P0=(A0TA0)-1,A0T为矩阵A0的转置,(A0TA0)-1为A0TA0的逆矩阵,令C1(0)C2(0)=C1C2,]]>将在[0-LT]和[LT-2LT]时间内的系统参数C1、C2,分别用表示;

步骤11:调整信号序列x(n)的序号指针n0,令n0=n0+2L,使序号指针,指向下一段长度为L的滤波后的信号;

步骤12:从当前的序号指针n0开始,取一段长度为L滤波后的信号:X3=[x(n0+1),...,x(n0+L)]T,X3对应于在[n0T-(n0+L)T]时间内的干涉光强度信号,按下式,计算X3的平均值及方差σ32

X3=(Σk=1Lx(n0+k))/L]]>

σ32=Σk=1L[x(n0+k)-X3]2,]]>

用新生成的平均值及方差σ32,构成信号更新向量dT及b(1)

dT=2X3σ32-2σ32,]]>b(1)=1,

建立在[n0T-(n0+L)T]时间内的系统参数C1、C2的矩阵方程:

dTC1C2=b(1),]]>b(1)=1;

步骤13:根据所构成的信号更新向量dT及b(1),采用递推最小二乘RLS算法,按下式,完成在[n0T-(n0+L)T]时间内的对系统参数C1、C2的进行估计,并分别用表示之:

P1=P0-P0ddTP01+dTP0d]]>

C1(1)C2(1)=C1(0)C2(0)+(b(1)-dTC1(0)C2(0))P1d,]]>

其中,向量d与dT互为转置关系,与分别对应于本次迭代运算以前与之后的参数C1、C2

步骤14:根据以上[n0T-(n0+L)T]时间内的系统参数C1和C2,按下式,计算气体测试室在该时间内,散射光的总光强a2及形成散射光的粒子总数目N:

a2=C1,N=C12C2;]]>

步骤15:根据已知的气体测试室的容积V和以上求得的粒子总数目N,能计算出在[n0T-(n0+L)T]时间内,被测气体的颗粒物数密度ρ,即单位体积的气体中PM2.5粒子数量:

ρ=NV]]>

步骤16:根据递推最小二乘RLS算法要求,按下式,重置迭代运算各单元的初值:

P0=P1

C1(0)C2(0)=C1(1)C2(1);]]>

步骤17:调整信号序列X的序号指针n0,令n0=n0+L,使序号指针指向下一段长度为L的滤波后的信号;

步骤18:重复步骤12-17,如此循环,完成在起始时刻n0=0之后的,任意时间[n0T-(n0+L)T]内的系统参数C1、C2的估计,进而,得到任意时间[n0T-(n0+L)T]内的散射光的总光强a2及形成散射光的粒子总数目N,实现被测气体在起始时刻n0=0之后的,任意时间[n0T-(n0+L)T]内的颗粒物数密度的检测,其中,n0=0,2L,3L,4L,5L,.......。

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