[发明专利]一种CCD调制传递函数测量装置及测量方法无效
| 申请号: | 201410502824.9 | 申请日: | 2014-09-26 |
| 公开(公告)号: | CN104280214A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
| 发明(设计)人: | 薛勋;段亚轩;陈永权;赵建科;胡丹丹;张洁;李坤;徐亮;刘峰;田留德;潘亮;赛建刚;周艳;高斌;赵怀学;张周锋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 杨引雪 |
| 地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 ccd 调制 传递函数 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:包括三维调整系统、光源和光处理单元;所述光处理单元固定在三维调整系统上,光处理单元包括目标狭缝和显微物镜;所述目标狭缝和显微物镜依次设置在所述光源的出射光路上,显微物镜包括两个面,其中一个面上设有螺纹,设有螺纹的面为像方,另一个面为物方;所述光源的出射光由像方入射,由物方出射。
2.根据权利要求1所述的CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:所述光处理单元还包括折轴镜和目镜,折轴镜设置在显微物镜和目标狭缝之间的光路上;目镜设置在折轴镜的上方,使得当转动折轴镜时,通过目镜能够看到被测CCD感光面。
3.根据权利要求1或2所述的CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:所述三维调整系统包括竖直电控平移台、水平电控平移台和前后电控平移台,水平电控平移台固定在前后电控平移台上,竖直电控平移台固定在水平电控平移台上,竖直电控平移台、水平电控平移台和前后电控平移台之间两两相互垂直,所述光处理单元固定在竖直电控平移台上。
4.根据权利要求3所述的CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:所述目标狭缝的宽度是被测CCD感光面像元宽度的1~2倍。
5.根据权利要求4所述的CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:所述CCD调制传递函数测量装置还包括控制采集系统;所述控制采集系统包括光源控制单元、运动方向控制单元和采集单元;所述光源控制单元与光源相连;运动方向控制单元分别与竖直电控平移台、水平电控平移台和前后电控平移台相连;采集单元与被测CCD相连。
6.根据权利要求5所述的CCD调制传递函数测量装置,其特征在于:所述控制采集系统还包括与被测CCD相连的显示单元。
7.采用权利要求1至6任一所述的CCD调制传递函数测量装置测量CCD调制传递函数的方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:
1)通过目镜查看被测CCD感光面;
若能够看到,则进行步骤3),否则进行步骤2);
2)调整竖直电控平移台、水平电控平移台和/或前后电控平移台,重复步骤1);
3)将光路中的折轴镜移开;
4)通过控制采集系统的显示单元,在被测CCD感光面上选择被测像元,将被测CCD感光面上目标狭缝的像作为目标图像,确保被测CCD工作在线性响应区内,将目标图像调整到选择的被测像元上;
5)移动竖直电控平移台或水平电控平移台,使目标图像从被测像元的一边移动至另一边,在移动过程中获取被测像元灰度值;
6)以步骤6)竖直电控平移台或水平电控平移台移动的距离为X轴,以步骤6)获取的被测像元灰度值为Y轴,得到被测像元的线扩展函数;
7)利用汉明窗对其进行切趾运算,并通过一维离散傅里叶变换,取模归一化得到被测像元的调制传递函数。
8.根据权利要求7所述的CCD调制传递函数测量方法,其特征在于:所述方法还包括以下步骤:
8)调整前后电控平移台或被测CCD与显微物镜之间的距离,重复步骤4)至步骤7),在步骤4)中选择同一个被测像元;
9)选择步骤8)得到的最大的调制传递函数,作为被测CCD的调制传递函数。
9.根据权利要求8所述的CCD调制传递函数测量方法,其特征在于:重复步骤8)至少10次。
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