[发明专利]玻璃基板的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，尤其涉及一种玻璃基板的检测方法。

背景技术

玻璃基板是LCD行业所用的主要原材，但是在复杂工艺流程中，往往会由于各种原因导致玻璃基板产生裂纹、破损。

在传统的TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示装置)行业，为了检测玻璃基板上是否存在破损，通常在玻璃基板清洗机上运用Chipping Sensor(碎片检知计)对玻璃基板进行破损检知，如图1所示，碎片检知计1的原理是通过检知照射至玻璃基板2上的光线的反射光的光强来判定玻璃基板是否破损，然而，此种方式易受到周围光线的干扰而频繁产生误报警，且其检知区域有限，Chipping Seneor检知的部位仅限于玻璃基板移动方向3上的一条直线，此外，该种检知方式无法对有裂纹的玻璃基板进行检测，而最易在工艺设备中产生裂片的正是有裂纹的玻璃基板，从而造成其检测结果可靠性不高的问题。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是提供一种玻璃基板的检测方法，能够提高检测结果的可靠性。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明的技术方案提供了一种玻璃基板的检测方法，包括：

在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂；

对所述玻璃基板的表面进行第一清洗；

对所述玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置。

进一步地，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括：

在所述玻璃基板的表面喷涂显色剂，所述显色剂通过与所述渗透探伤剂发生反应显色。

进一步地，所述渗透探伤剂为荧光渗透探伤剂，所述对所述玻璃基板的表面进行显色处理包括：

对所述玻璃基板的表面进行光照处理。

进一步地，所述对所述玻璃基板的表面进行光照处理包括：

采用大于或等于1000lx的白光对所述玻璃基板的表面进行光照处理。

进一步地，所述荧光渗透探伤剂为蓝色荧光渗透探伤剂。

进一步地，在在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂之前还包括：

对所述玻璃基板的表面进行第二清洗。

进一步地，在根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置之后还包括；

对所述玻璃基板缺陷进行等级判定。

进一步地，所述玻璃基板包括正面以及与所述正面相对的背面，所述正面用于形成显示面板的层结构，所述在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂包括：

在玻璃基板的背面喷涂渗透探伤剂。

(三)有益效果

本发明通过在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂，当玻璃基板存在缺陷时，例如存在裂纹时，渗透探伤剂会对玻璃基板的缺陷部位进行渗透着色，即使在对玻璃基板的表面进行第一清洗后，也仅将玻璃基板的表面的渗透探伤剂清洗掉，缺陷部位中的渗透探伤剂仍存留其中，在对玻璃基板的表面进行显色处理使存留的渗透探伤剂进行显色后，就可根据显色的位置获取玻璃基板缺陷的位置，相比现有技术，不仅能够增加检测缺陷的种类和范围，且检测过程不易受外界影响，从而大大提高其检测结果的可靠性。

附图说明

图1是现有技术中玻璃基板的检测示意图；

图2是本发明实施方式提供的一种玻璃基板的检测方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

图2是本发明实施方式提供的一种玻璃基板的检测方法的流程图，包括：

S1：在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂；

S2：对所述玻璃基板的表面进行第一清洗；

S3：对所述玻璃基板的表面进行显色处理，以便根据所述玻璃基板上显色的位置获取所述玻璃基板缺陷的位置。

本发明实施方式提供的玻璃基板的检测方法，通过在玻璃基板的表面喷涂渗透探伤剂，当玻璃基板存在缺陷时，例如存在裂纹时，渗透探伤剂会对玻璃基板的缺陷部位进行渗透着色，即使在对玻璃基板的表面进行第一清洗后，也仅将玻璃基板的表面的渗透探伤剂清洗掉，缺陷部位中的渗透探伤剂仍存留其中，在对玻璃基板的表面进行显色处理使存留的渗透探伤剂进行显色后，就可根据显色的位置获取玻璃基板缺陷的位置，相比现有技术，不仅能够增加检测缺陷的种类和范围，且检测过程不易受外界影响，从而大大提高其检测结果的可靠性。