[发明专利]微弱引力天体岩石骤冷采样方法有效
| 申请号： | 201410484020.0 | 申请日： | 2014-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN104458317B | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 张嘉雷;张晓敏;张燕;徐志明;徐云飞;韩孟飞;徐森 | 申请（专利权）人： | 航天东方红卫星有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/04 | 分类号： | G01N1/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100094 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 微弱 引力 天体 岩石 采样 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于，包括：
步骤S1，探测器上的骤冷剂喷射装置接近目标天体上的采样点；
步骤S2，所述骤冷剂喷射装置喷洒骤冷剂导致所述采样点的岩石破碎；
步骤S3，将所述采样点的碎石收集到所述探测器的样品舱内。
2.根据权利要求1所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于：
在步骤S1之前包括：步骤S11，姿轨控系统控制所述探测器接近所述目标天体。
3.根据权利要求2所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于：
在步骤S11之后，步骤S1之前包括：步骤S12，使用近距离宽视场视频相机观察所述目标天体，选择所述采样点。
4.根据权利要求3所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于：
在步骤S12之后，步骤S1之前包括：步骤S13，利用非接触式测温仪对多个选定的所述采样点进行测温。
5.根据权利要求4所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于：
在步骤S13之后，步骤S2之前包括：步骤S14，若所述采样点温度均未达到要求的采样温度时，对所述采样点实施加热。
6.根据权利要求5所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于，步骤S14中，采用高能激光加热装置对采样点实施加热。
7.根据权利要求1所述的微弱引力天体岩石骤冷采样方法，其特征在于，所述骤冷剂为液化惰性气体。
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