[发明专利]一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法在审

专利信息
申请号: 201410483982.4 申请日: 2014-09-22
公开(公告)号: CN104297585A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 于庆奎;罗磊;张洪伟;孙毅;祝名;唐民 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 李江
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 高能 质子 进行 空间 位移 损伤 效应 评估 试验 方法
【权利要求书】:

1.一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于该方法包括如下步骤:

步骤1,航天器内部辐射环境计算,

采用空间环境效应计算软件,输入地球轨道航天器的轨道参数值,空间辐射环境模型,航天器屏蔽厚度,计算航天器内部质子微分能谱;

步骤2,选择质子,

计算出的轨道中航天器内部质子微分谱,由于质子随能量不是均匀分布的,存在质子注量峰值,选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子;

步骤3,试验用质子注量,

计算试验用质子注量                                                :

式中为试验用质子能量的注量,为能量为的质子非电离能损,为空间质子微分能谱,和分别为空间质子最大能量和最小能量,为能量为的质子非电离能损;

步骤4,辐照试验,

用所述步骤2计算确定的所述能量质子,辐照器件到根据所述步骤3所述质子注量,辐照后,按产品规范要求进行电测试。

2.根据权利要求1所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于: 所述空间质子最大能量和最小能量取值范围是0.01MeV-500MeV。

3.根据权利要求2所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:所述空间质子最大能量为500MeV,所述空间质子最小能量为0.01MeV。

4.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤1中,所述空间环境效应计算软件采用PACE RADIATION或CRèME,

所述地球轨道航天器的轨道参数值取空间站轨道参数值为400km×400km和28°,所述空间辐射环境模型采用AP8模型,太阳质子采用ESP模型,所述ESP模型的参数值为7年太阳高年和90%置信度,所述航天器屏蔽厚度为3mm、10mm或30mm。

5.根据权利要求4所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤2中, 所述质子微分谱为低地球轨道质子微分能谱,所述注量峰值对应的能量在50MeV。

6.根据权利要求5所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤3中,计算试验用质子注量:

根据所述试验用质子注量的计算公式,计算低地球轨道航天器内部器件位移损伤试验用的质子注量为:

7.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤1中,所述空间环境效应计算软件采用PACE RADIATION或CRèME,所述地球轨道航天器的轨道参数值取航天器轨道高度和倾角为36000km和0°,所述空间辐射环境模型采用AP8模型,太阳质子采用ESP模型,所述ESP模型的参数值为7年太阳高年和90%置信度,所述航天器屏蔽厚度为3mm、10mm或30mm。

8.根据权利要求7所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤2中, 所述质子微分谱为地球同步轨道质子微分能谱,所述注量峰值对应的能量在20MeV。

9.根据权利要求8所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:

所述步骤3中,计算试验用质子注量:

根据所述试验用质子注量的计算公式,计算地球同步轨道航天器内部器件位移损伤试验用的质子注量为:

10.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:所述航天器屏蔽的材质为铝。

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