[发明专利]一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法在审
申请号: | 201410483982.4 | 申请日: | 2014-09-22 |
公开(公告)号: | CN104297585A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 于庆奎;罗磊;张洪伟;孙毅;祝名;唐民 | 申请(专利权)人: | 中国空间技术研究院 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人: | 李江 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高能 质子 进行 空间 位移 损伤 效应 评估 试验 方法 | ||
1.一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于该方法包括如下步骤:
步骤1,航天器内部辐射环境计算,
采用空间环境效应计算软件,输入地球轨道航天器的轨道参数值,空间辐射环境模型,航天器屏蔽厚度,计算航天器内部质子微分能谱;
步骤2,选择质子,
计算出的轨道中航天器内部质子微分谱,由于质子随能量不是均匀分布的,存在质子注量峰值,选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子;
步骤3,试验用质子注量,
计算试验用质子注量 :
,
式中为试验用质子能量的注量,为能量为的质子非电离能损,为空间质子微分能谱,和分别为空间质子最大能量和最小能量,为能量为的质子非电离能损;
步骤4,辐照试验,
用所述步骤2计算确定的所述能量质子,辐照器件到根据所述步骤3所述质子注量,辐照后,按产品规范要求进行电测试。
2.根据权利要求1所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于: 所述空间质子最大能量和最小能量取值范围是0.01MeV-500MeV。
3.根据权利要求2所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:所述空间质子最大能量为500MeV,所述空间质子最小能量为0.01MeV。
4.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤1中,所述空间环境效应计算软件采用PACE RADIATION或CRèME,
所述地球轨道航天器的轨道参数值取空间站轨道参数值为400km×400km和28°,所述空间辐射环境模型采用AP8模型,太阳质子采用ESP模型,所述ESP模型的参数值为7年太阳高年和90%置信度,所述航天器屏蔽厚度为3mm、10mm或30mm。
5.根据权利要求4所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤2中, 所述质子微分谱为低地球轨道质子微分能谱,所述注量峰值对应的能量在50MeV。
6.根据权利要求5所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤3中,计算试验用质子注量:
根据所述试验用质子注量的计算公式,计算低地球轨道航天器内部器件位移损伤试验用的质子注量为:
。
7.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤1中,所述空间环境效应计算软件采用PACE RADIATION或CRèME,所述地球轨道航天器的轨道参数值取航天器轨道高度和倾角为36000km和0°,所述空间辐射环境模型采用AP8模型,太阳质子采用ESP模型,所述ESP模型的参数值为7年太阳高年和90%置信度,所述航天器屏蔽厚度为3mm、10mm或30mm。
8.根据权利要求7所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤2中, 所述质子微分谱为地球同步轨道质子微分能谱,所述注量峰值对应的能量在20MeV。
9.根据权利要求8所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:
所述步骤3中,计算试验用质子注量:
根据所述试验用质子注量的计算公式,计算地球同步轨道航天器内部器件位移损伤试验用的质子注量为:
。
10.根据权利要求1、2或3所述的用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法,其特征在于:所述航天器屏蔽的材质为铝。
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