[发明专利]一种一维光栅扫描测头

权利要求书

1.一种一维光栅扫描测头，其特征在于：该测头包括下基板(1)、测针安装转轮(9)、拉紧转轮(12)、测针(11)、柔性钢带(3)、拉紧弹簧(7)、光栅尺(6)以及光栅尺读数头(4)，所述测针安装转轮(9)和拉紧转轮(12)分别设置于下基板(1)上的两端，测针(11)与测针安装转轮(9)的外侧端相连，测针安装转轮(9)的内侧端与拉紧弹簧(7)的一端相连，拉紧弹簧(7)的另一端与拉紧转轮(12)的内侧端相连，柔性钢带(3)的一端固定于测针安装转轮(9)外侧端的圆周上，另一端固定于拉紧转轮(12)外侧端的圆周上，光栅尺(6)设置于柔性钢带(3)上，光栅尺读数头(4)设置于测针安装转轮(9)和拉紧转轮(12)之间，光栅尺读数头(4)与光栅尺(6)相对。

2.根据权利要求1所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述柔性钢带(3)为两条，两条柔性钢带形成围绕测针安装转轮(9)和拉紧转轮(12)各自外侧端圆周的环形结构，两条柔性钢带上分别设置有光栅尺(6)，光栅尺(6)与各自的光栅尺读数头(4)相对。

3.根据权利要求1所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述下基板(1)上设置有条形孔，光栅尺读数头(4)与条形孔相连。

4.根据权利要求1所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述测针安装转轮(9)和拉紧转轮(12)之间的距离通过平移拉紧转轮(12)进行调整。

5.根据权利要求1所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述测头还包括用于限制测针安装转轮转动角度的限位机构。

6.根据权利要求5所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述限位机构包括设置于下基板(1)上的限位块(5)以及设置于测针安装转轮(9)上的与限位块(5)配合的限位螺钉(15)。

7.根据权利要求6所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述限位块(5)为两个，两个限位块以测针摆动中心位置为对称轴分别布置于测针安装转轮(9)两侧，两个限位块分别与设置于测针安装转轮(9)上的两个限位螺钉(15)对应配合。

8.根据权利要求1所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述测头还包括上基板(13)，上基板(13)与下基板(1)相对设置，上、下基板之间设置有第一转轴(2-1)和第二转轴(2-2)，第一转轴(2-1)和第二转轴(2-2)上分别设置有精密轴承(8)，测针安装转轮(9)通过对应的精密轴承与第一转轴(2-1)相连，拉紧转轮(12)通过对应的精密轴承与第二转轴(2-2)相连。

9.根据权利要求8所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述上基板(13)和下基板(1)上分别开设有条形槽孔，第二转轴(2-2)的两端分别位于对应的条形槽孔内，条形槽孔内设置有两个用于夹持第二转轴的弧形垫板(14)，弧形垫板的内凹弧面通过设置于上基板(13)以及下基板(1)上的调整螺栓(10)顶压在第二转轴(2-2)的圆周上。

10.根据权利要求9所述一种一维光栅扫描测头，其特征在于：所述上基板(13)和下基板(1)为回字形中空基板，同一个条形槽孔内的一个弧形垫板(14)与从回字形中空基板内边沿向外延伸入条形槽孔的调整螺栓(10)相连，同一个条形槽孔内的另一个弧形垫板(14)与从回字形中空基板外边沿向内延伸入条形槽孔的调整螺栓(10)相连。