[发明专利]一种基于出叶和展叶的设施作物叶面积模拟方法

权利要求书

1.一种基于出叶和展叶的设施作物叶面积模拟方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

步骤A：开展设施作物栽培试验，收集作物叶片生长数据和设施小气候数据；

步骤B：根据步骤A收集的数据计算描述叶片生长的综合光温指标，从而构建光热效应；

步骤C：建立出叶数与光热效应的数学模型，得到单株作物叶片数量；

步骤D：构建作物不同叶序叶片的平均增长速率和最大叶长的模拟模型，模拟不同叶序的叶片长度；

步骤E：利用叶面积与叶长平方的回归模型计算出单叶面积，再对单叶面积进行积分得到单株叶面积。

2.根据权利要求1所述的一种基于出叶和展叶的设施作物叶面积模拟方法，其特征在于：所述的步骤A包括以下步骤：

步骤A1：在设施温室大棚内设立自动气象站，采集温室内一定高度处的空气温度与设施作物冠层上方的太阳辐射，将太阳辐射乘以转换因子转化为光合有效辐射；

步骤A2：每天记录设施作物出叶数，每隔一定时间测一次不同叶序的叶片长度，利用纸张描出叶片形状，称出纸张重量，换算出每个叶片的叶面积，利用该单片叶面积与实际测定的长度进行回归求得作物叶面积系数C_m。

3.根据权利要求2所述的一种基于出叶和展叶的设施作物叶面积模拟方法，其特征在于：所述的步骤A1中一定高度取值为1.5m，转换因子取值为0.5；所述的步骤A2中一定时间取值为2天。

4.根据权利要求2所述的一种基于出叶和展叶的设施作物叶面积模拟方法，其特征在于：所述的步骤B计算描述叶片生长的综合光温指标，是通过计算定植后第i天的日光热效应ui实现，

ui=A×(1-e-α×I)×(1-e-β(T-Tb))×(1-e-γ(Tm-T))]]>

M＝Σui

式中，ui为定植后第i天的日光热效应，M为某发育阶段的累积光热效应；T为设施每日平均温度，I为每日辐射日积分，T_b为发育最低温度，T_m为发育最高温度，A和α、β、γ为模型参数，e作为数学常数，是自然对数函数的底数。