[发明专利]波形处理辅助方法和波形处理辅助系统

说明书

技术领域

本发明涉及用于辅助进行利用色谱仪系统、分光计或其它装置所获得的测量数据的峰波形的解析的方法和系统。

背景技术

诸如色谱仪系统或分光分析器等的一些测量系统产生采用具有一个或多个峰的波的形式的测量数据。在这些系统中，通过进行如下的波形处理以确定测量数据的峰波形的宽度、强度、面积和其它值来解析测量的结果(参见专利文献1)，其中该波形处理包括以下步骤：确定峰的上升点和下降点；设置基线；并且使用洛伦兹(Lorenz)分布函数或高斯(Gaussian)分布函数来计算拟合曲线。

由于峰的上升点和下降点影响峰面积的值，因此正确地确定这些点很重要。在基于色谱测量的结果来制备分离被测量试样的特定目标成分的制备色谱法中，需要通过波形处理来正确地确定峰的上升点和下降点，从而使要与目标成分混合的不想要的成分的量最少。

在色谱仪系统中，在峰的上升点和下降点的确定时，使用被称为“宽度”和“斜率”的两个参数。

参数“宽度”是在波形处理中识别出峰的半高宽(full width at half maximum，FWHM)的最小值；将FWHM小于该值的波形识别为噪声。以与测量数据的横轴相同的单位(例如，如色谱仪系统的情况那样以分钟为单位、或者如分光分析器的情况那样以1/cm(或nm)为单位)来表示参数“宽度”。因此，使用者可以直观地判断“宽度”值是否恰当。

参数“斜率”是用于确定峰的上升点或下降点的位置的峰的斜率的临界值；将如下点识别为峰的上升点或下降点，其中在该点处，峰的斜率等于临界值，并且在该点周围，峰的斜率示出预定的增加或减少趋势。以组合横轴和纵轴的单位的复杂单位来表示参数“斜率”。因此，使用者难以直观地判断“斜率”值是否恰当。

在这种技术背景的情况下，已经努力使用计算机来使这两个参数的值的确定(特别是“斜率”值的确定)自动化。在用于确定“斜率”的适当值的一个方法中，通过利用预定标准确定波形的基线来自动计算针对测量数据的峰波形的“斜率”的推荐值。在另一方法中，通过进行使用参数“宽度”和“斜率”的预定值的解析来计算实际峰的上升点和下降点。

使用计算机所进行的参数“宽度”和“斜率”的值的自动确定是标准化处理，并且不允许使用者根据需要任意选择峰的上升点或下降点。例如，在制备色谱法中，在已发现制备分离后的试样中混入有除特定成分以外的成分的情况下，使用者可能期望在延迟的时间点设置峰的上升点以及/或者在提前的时间点设置下降点。然而，使用计算机的自动化处理无法灵活地应对这些情形。在这些情况下，使用者需要直接指定参数“宽度”和“斜率”的值。

然而，对于不习惯波形处理的解析的人而言，指定参数“斜率”的值很困难。这是因为，如前面所述，使用者难以直观地判断“斜率”值是否恰当。

在使用光谱的成分分析中，存在如下情况：需要将仅峰强度彼此不同的多个光谱彼此叠加以供比较。在这种情况下，峰强度比其它光谱的峰强度低的光谱在基线附近可能模糊。在使用者在这种低强度光谱中直接指定参数“宽度”和“斜率”的值并且确定峰的上升点和下降点的情况下，难以根据画面显示来判断峰的上升点和下降点是否恰当。因此，使用者需要进行如下的麻烦任务：放大峰强度低的光谱的纵轴，然后通过直接指定参数“宽度”和“斜率”的值来确定峰的上升点和下降点。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-127814 A

发明内容

发明要解决的问题

本发明要解决的问题是帮助使用者确定在用于确定峰的上升点和下降点的波形处理方法中所需的、并且无法容易且直观地判断恰当性的参数的值。

用于解决问题的方案

根据目的在于解决上述问题的本发明的波形处理辅助方法的特征在于：将与测量数据的峰波形的在使用者所指定的点处的斜率有关的信息显示在显示有所述峰波形的显示画面上。