[发明专利]一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板有效
申请号: | 201410471520.0 | 申请日: | 2014-09-16 |
公开(公告)号: | CN104201201B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 罗小蓉;熊佳云;杨超;魏杰;蔡金勇;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L29/41 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙)51227 | 代理人: | 李玉兴 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 gan hemt 器件 自适应 偏置 | ||
1.一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,所述GaN基HEMT器件包括主器件HEMT区(1)、辅助二极管区(2)以及将主器件HEMT区(1)和辅助二极管区(2)横向隔离的隔离区(3);其特征在于,所述自适应偏置场板(4)纵向连接主器件HEMT区(1)、辅助二极管区(2)和隔离区(3);其中,
所述主器件HEMT区(1)包括衬底(5)、位于衬底(5)上层的缓冲层(6)、位于缓冲层(6)上层的势垒层(7)和位于势垒层(7)上层的钝化层(8);所述势垒层(7)上表面两端分别设置有源电极和漏电极,在源电极和漏电极之间设置有栅电极;所述自适应偏置场板(4)位于主器件HEMT区(1)的部分设置在栅电极和漏电极之间的钝化层(8)的上表面;
所述辅助二极管区(2)包括衬底(51)、位于衬底(51)上层的缓冲层(61)、位于缓冲层(61)上层的势垒层(71)和位于势垒层(71)上层的钝化层(81);所述势垒层(71)上表面的两端分别设置有阳极和阴极;所述阳极与源电极的位置相对应并建立电气连接,所述阴极与漏电极的位置相对应并建立电气连接;所述自适应偏置场板(4)位于辅助二极管区(2)的部分嵌入在钝化层(81)中并与势垒层(71)的上表面连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,其特征在于,所述自适应偏置场板(4)为m个,每个自适应偏置场板之间相互独立,其中m为正整数。
3.根据权利要求2所述的一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,其特征在于,所述m个自适应偏置场板中有n个与源电极建立电气连接,i个与漏电极建立电气连接,j个与栅电极建立电气连接,k个浮空;其中,n、i、k、j为自然数,且n+i+k+j<m,n≥0,i≥0,j≥0,k≥0。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,其特征在于,所述辅助二极管区(2)为肖特基二极管或PN结二极管。
5.根据权利要求4所述的一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,其特征在于,所述栅电极与势垒层表面接触形成肖特基结构。
6.根据权利要求4所述的一种用于GaN基HEMT器件的自适应偏置场板,其特征在于,所述栅电极与势垒层之间由绝缘介质隔开形成MIS结构。
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