[发明专利]一种大功率808nm DFB LD内置光栅的制备方法在审

专利信息
申请号: 201410468409.6 申请日: 2014-09-15
公开(公告)号: CN105406354A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 曲轶;郭海侠;石宝华;高峰;李再金;李辉;乔忠良;张晶 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 大功率 808 nm dfb ld 内置 光栅 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种大功率808nm分布反馈半导体激光器中内置光栅的制备方法,其特征在于,利用MOCVD进行一次外延生长,一次外延生长步骤为:(1)在GaAs外延基底片上生长出图1中1所标示的厚度为0.5mm的N-GaAs(Si掺杂,2.0′1018cm-3)缓冲层;(2)继续生长图1中2所标示的厚度为0.05mm的N-GaxAl1-xAs(x=0.05~0.55,Si掺杂,~1.0′1018cm-3)渐变的过渡层;(3)继续生长图1中3所标示的厚度为1.2mm的N-Al0.55Ga0.45As(Si掺杂,1.0′1018cm-3)下限制层;(4)继续生长图1中4所标示的厚度为0.15mm的非故意掺杂AlxGa1-xAs(x=0.55~0.25)渐变波导层;(5)继续生长图1中5所标示的厚度为5nm的非故意掺杂Al0.25Ga0.75As量子阱势垒层;(6)继续生长图1中6所标示的厚度为4nm的非故意掺杂Al0.07Ga0.93As量子阱阱层;(7)继续生长图1中7所标示的厚度为5nm的非故意掺杂Al0.25Ga0.75As量子阱势垒层;(8)继续生长图1中8所标示的厚度为0.15mm的非故意掺杂AlxGa1-xAs(x=0.25~0.55)渐变波导层;(9)最后生长图1中9所标示的厚度为30nmP-In0.4Ga0.6P光栅层。

2.根据权利要求1所述的一种大功率808nm分布反馈半导体激光器中内置光栅的制备方法,其特征在于,(1)将准备好的外延片放置在以325nmHe-Cd激光器为曝光源的SVG-GL240全息曝光系统中,曝光时间为160s,曝光功率为50mW,将曝光后的外延片放入显影液中显影6s,随后放在100℃加热板上坚膜60s;(2)将坚膜后的外延片放进已配置好的腐蚀液中30s,该腐蚀液是按体积比为:配置的混合溶液,从而获得周期为,凹槽深度为,光栅的脊宽为的光栅。

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