[发明专利]一种极低频电波屏蔽测试装置

权利要求书

1.一种极低频电波屏蔽测试装置，该装置包括：电波屏蔽筒(1)和筒内测试线圈(2)，所述筒内测试线圈(2)位于所述电波屏蔽筒(1)内；

所述电波屏蔽筒(1)包括：第一筒端盖(1-1)、第二筒端盖(1-2)、厚壁金属管(1-3)、螺杆(1-4)、双重孔盖(1-5)和屏蔽盖(1-57)；所述第一筒端盖(1-1)和所述第二筒端盖(1-2)位于所述厚壁金属管(1-3)的两端；所述双重孔盖(1-5)封闭所述第二筒端盖(1-2)，所述屏蔽盖(1-57)用于覆盖封闭所述双重孔盖(1-5)；将所述第一筒端盖(1-1)，所述厚壁金属管(1-3)和所述第二筒端盖(1-2)通过所述螺杆(1-4)固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；

所述筒内测试线圈(2)由外到内分布有支撑测试螺线管线圈(2-1)的盘支架(2-2)、位于测试螺线管线圈(2-1)外面的保护套管(2-7)、测试螺线管线圈(2-1)、缠绕所述测试螺线管线圈(2-1)的圆管(2-6)；位于所述圆管(2-6)孔内用于支撑测试管(2-4)的管支架(2-5)和测试管(2-4)；所述测试管(2-4)的长度大于所述测试螺线管线圈(2-1)的长度。

2.根据权利要求1所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述第一筒端盖(1-1)沿中心轴线从内到外设有圆盆形凹槽(1-11)、环形凹槽(1-12)、螺孔(1-13)；所述第二筒端盖(1-2)从内到外设有通孔(1-21)，第一环形槽(1-22)、孔(1-23)；所述环形凹槽(1-12)的尺度和形状由所述厚壁金属管(1-3)的端部几何结构决定，所述环形凹槽(1-12)的凹槽深度不小于所述厚壁金属管(1-3)壁厚尺寸的1/2。

3.根据权利要求2所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述双重孔盖(1-5)包括：第一级孔盖(1-51)和第二级孔盖(1-55)；所述第一级孔盖(1-51)上开设有第一级孔盖通孔(1-53)，第一级孔盖顶部(1-52)设有环绕第一级孔盖通孔(1-53)的第二环形槽(1-54)；所述第二级孔盖(1-55)设有信号线孔(1-56)。

4.根据权利要求3所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述屏蔽盖(1-57)的侧壁上开有引线孔(1-58)；所述第一级孔盖顶部(1-52)上设有U型手柄(1-59)，所述U型手柄(1-59)中部设有旋钮(1-510)和中部螺孔(1-511)，所述旋钮(1-510)用于压紧所述屏蔽盖(1-57)。

5.根据权利要求4所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述第二级孔盖(1-55)用于封闭所述第一级孔盖通孔(1-53)，所述屏蔽盖(1-57)用于覆盖封闭所述第二级孔盖(1-55)；所述U型手柄(1-59)的两底脚处设有同轴线的轴孔，所述第一级孔盖顶部(1-52)为圆柱体，其侧壁沿径向开设两个螺孔，这两个螺孔同轴线，两个螺孔的中心连线与所述第一级孔盖(1-51)中心轴线垂直相交，这两个螺孔用于装设贯穿所述U型手柄(1-59)两底脚处轴孔的固定螺栓(1-512)，所述第一级孔盖顶部(1-52)沿轴向开设供所述第二级孔盖(1-55)穿入的通孔。

6.根据权利要求3所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述第一级孔盖(1-51)用于直接堵塞所述通孔(1-21)，所述第一级孔盖顶部(1-52)直径大于所述通孔(1-21)直径的1/3。所述第一级孔盖(1-51)和所述第二级孔盖(1-55)均是由其结构沿中心轴线的剖面成T形的同轴线不等径圆柱体构成，由直接堵塞开孔内的小直径圆柱体段上的矩形螺丝扣紧固。

7.根据权利要求3所述的极低频电波屏蔽测试装置，其特征在于，所述测试螺线管线圈(2-1)本体端部与所述第一筒端盖(1-1)和所述第二筒端盖(1-2)内壁之间间距不小于所述测试螺线管线圈(2-1)本体直径的1/2；所述第一级孔盖通孔(1-53)直径大于所述保护套管(2-7)的外径。