[发明专利]一种电子产品老化测试系统在审

专利信息
申请号: 201410464600.3 申请日: 2014-09-13
公开(公告)号: CN104198861A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 束龙胜;崔文梅;高峰;张希;吴小春;李颖;汪菁涵;杨先忠;沈松;马小群 申请(专利权)人: 安徽鑫龙电器股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G05B19/05;G05D27/02
代理公司: 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 代理人: 马荣
地址: 241008 安徽省芜*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子产品 老化 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种电子产品老化测试系统,其特征在于:所述的测试系统为后台系统(1)控制PLC模块(2)分别连接温度模块(3)、湿度模块(4)、温度调节模块(5)、湿度调节模块(6)、时间调节模块(7);时间调节模块(7)连接待测产品(9);信号源模块(8)与PLC模块(2)通讯后连接到待测产品(9)上。 

2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统,其特征在于:所述的PLC模块(2)通过温度模块(3)、湿度模块(4)对老化房内的温度、湿度信息进行采集并通过温度调节模块(5)、湿度调节模块(6)进行调节保证老化房内的温度湿度处于规定范围内。 

3.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统,其特征在于:所述的后台系统(1)将信号源模块(8)的输入信号与待测产品(9)的输出信号进行计算对比,当输出信号超出阙值后判断产品不合格。 

4.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统,其特征在于:所述的后台系统(1)设置在设置于老化电子产品房的门外的控制桌上的控制室内。 

5.根据权利要求1所述的一种电子产品老化测试系统,其特征在于:所述的温度模块(3)、湿度模块(4)、温度调节模块(5)、湿度调节模块(6)、时间调节模块(7)和信号源模块(8)设置在电子产品老化房中。 

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