[发明专利]用于测定流体样本中的分析物浓度的测试传感器

权利要求书

1.一种用于测定流体样本中的分析物浓度的测试传感器，包括：

流体接收区，其用于接收流体样本，所述流体接收区含有与所述流体样本中的分析物发生可测量反应的试剂，所述测试传感器具有测试传感器温度并且所述试剂具有试剂温度；以及

热致变色材料、光栅和偏光材料中的一者或多者，其沿着所述测试传感器的表面布置，

其中所述测试传感器被构造成被接收在测量仪的开口中，所述热致变色材料、光栅和偏光材料中的所述一者或多者沿着所述测试传感器的表面布置，使得当所述测试传感器被接收到所述开口中时能够在所述测量仪内部检测所述热致变色材料、所述光栅或所述偏光材料，所述测量仪被构造成测定所述试剂和所述分析物之间的反应程度，所述测量仪包括温度测量系统，所述温度测量系统被构造成当所述热致变色材料、所述光栅或所述偏光材料位于所述测量仪内部时从所述热致变色材料、光栅和偏光材料中的所述一者或多者中测定所述测试传感器温度的大小，所述测量仪被构造成利用所述反应程度和所述测试传感器温度的大小来测定所述流体样本中的所述分析物的浓度。

2.如权利要求1所述的测试传感器，其中当所述测试传感器被接收到所述开口中时，所述热致变色材料、光栅和偏光材料中的所述一者或多者位于所述开口中，而所述流体接收区则远离所述测量仪。

3.如权利要求1所述的测试传感器，其中

所述光栅包括由响应于温度变化的距离等距隔开的一系列平行线性结构，以及

所述温度测量系统包括光源和光检测器，所述光栅被构造成接收从所述光源射出的入射光，所述光检测器被构造成从被布置在所述测量仪内部的所述光栅接收随着用于将所述光栅的所述线性结构隔开的所述距离的变化而变化的衍射光线，所述温度测量系统根据所述衍射光线测定所述测试传感器温度的大小。

4.如权利要求3所述的测试传感器，其中所述光源包括将固定波长光线射向所述光栅的激光器，所述光检测器根据角度从所述光栅接收所述衍射光线，所述角度指示用于将所述光栅的所述线性结构隔开的所述距离，并且所述温度测量系统根据所述角度测定所述测试传感器温度的大小。

5.如权利要求4所述的测试传感器，其中所述固定波长在450nm到1800nm的范围内。

6.如权利要求3所述的测试传感器，其中所述光源产生白光并将所述白光射向所述光栅，所述光检测器从所述光栅接收所述衍射光线，所述衍射光线包括红色、绿色和蓝色分量，所述衍射光线中的所述红色、绿色和蓝色分量指示用于将所述光栅的所述线性结构隔开的所述距离，并且所述温度测量系统根据所述红色、绿色和蓝色分量测定所述测试传感器温度的大小。

7.如权利要求3所述的测试传感器，其中所述光栅在所述测试传感器的表面中辊轧形成。

8.如权利要求3所述的测试传感器，其中利用激光加工将所述光栅刻在所述测试传感器的表面中。

9.如权利要求3所述的测试传感器，其中所述光栅由单独的材料形成并涂布在所述测试传感器上。

10.如权利要求9所述的测试传感器，其中通过沉积将所述单独的材料涂布在所述测试传感器的表面上。

11.如权利要求1所述的测试传感器，其中

所述偏光材料使从所述偏光材料反射的光线出现偏振度，所述偏光材料具有响应于温度而发生变化并使所述偏振度变化的结构，以及

所述温度测量系统包括光源和光检测器，所述偏光材料被构造成接收从所述光源射出的入射光，并且所述光检测器被构造成从被布置在所述测量仪内部的所述偏光材料接收随着所述偏振度变化的反射光线的量，所述温度测量系统根据由所述光检测器接收的反射光线的量测定所述测试传感器温度的大小。

12.如权利要求11所述的测试传感器，其中所述光源是将固定波长光线射向所述偏光材料的激光器。