[发明专利]分光器所用的波长校准方法以及分光光度计

权利要求书

1.一种用于通过将来自发光强度包含预定周期的变化的标准光源的光照射到分光器的衍射光栅上、并且测量所述衍射光栅所反射的光的强度来进行波长校准的方法，所述方法包括以下步骤：

a)在与包括所述标准光源所生成的亮线光谱光的峰值波长的范围的各波长相对应的所述衍射光栅的各转动位置处，在所述周期内至少两次测量来自所述衍射光栅的反射光的强度；

b)基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值；以及

c)将所述强度值最大的波长确定为所述亮线光谱光的峰值波长。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述强度值是所有测量值的最高测量值。

3.一种分光光度计，包括：

a)分光器，其具有：衍射光栅，用于接收并衍射来自发光强度包含预定周期的变化的、用于生成已知的亮线光谱光的标准光源的光；以及光栅驱动机构，用于使所述衍射光栅转动；

b)测光器，用于测量来自所述分光器的光的强度；

c)分光控制器，用于控制所述光栅驱动机构，以使所述衍射光栅在包括所述亮线光谱光的峰值波长的范围内以预定波长为单位进行转动；

d)发光强度确定器，用于在所述衍射光栅的各转动位置处利用所述测光器在所述周期内至少两次测量来自所述分光器的光的强度，并且基于该转动位置处所获得的所有测量值来确定该转动位置处的强度值；以及

e)峰值确定器，用于将所述范围内所述强度值最大的波长确定为所述亮线光谱光的峰值波长。

4.根据权利要求3所述的分光光度计，所述强度值是所有测量值的最高测量值。