[发明专利]用于评估控制环中的系统的性能的装置和方法有效
申请号: | 201410453627.2 | 申请日: | 2014-09-05 |
公开(公告)号: | CN104426537B | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | M·K·卡恩;K·J·默尔瓦那;M·J·荻尼;N·K·可尔尼 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | H03L7/08 | 分类号: | H03L7/08 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 申发振 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 百慕大群岛;BM |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 评估 控制 环中 系统 性能 装置 方法 | ||
1.一种用于监控其中具有分频器的锁相环的性能的监控电路,所述分频器包括第一计数器,所述监控电路包括:
至少一个存储元件,其配置成在所述锁相环工作中自系统事件起预定时间之后捕获所述第一计数器的值;以及
可变性计算器,其配置成将所述第一计数器的值与所述第一计数器的前值进行比较以计算表示所述第一计数器的值的差的第一值,
其中所述可变性计算器还配置成根据所述锁相环的性能的多次观测来求所述第一值的和,并且
所述监控电路配置成将所述和与阈值比较以获得所述锁相环的状态信号。
2.如权利要求1所述的监控电路,其中所述分频器是包括所述第一计数器和第二计数器的分数分频器。
3.如权利要求1所述的监控电路,其中所述系统事件是在所述锁相环的循环开始时所述第一计数器复位或者加载成初始值、或者参考或另一时钟信号的接收。
4.如权利要求1所述的监控电路,其中所述至少一个存储元件包括用于锁存所述第一计数器的输出的至少一个锁存器。
5.如权利要求4所述的监控电路,其中所述至少一个存储元件包括两个串联连接的锁存器,并且所述可变性计算器包括用于形成所述第一值的减法器,其中所述第一值表示所述两个串联连接的锁存器所保存的值的差。
6.如权利要求1所述的监控电路,其中所述状态信号启动所述锁相环的正确工作和/或所述锁相环的不正确工作。
7.如权利要求1所述的监控电路,还包括用于确定所述锁相环被监控的工作循环的数量或者用于确定所述锁相环被监控的持续时间的至少一个计数器或定时器。
8.如权利要求1所述的监控电路,其中系统时钟的变换与所述锁相环内的分频器或预定标器的变换同步。
9.如权利要求1所述的监控电路,其中所述可变性计算器形成了在第一时钟脉冲数或第一时间段上的变差之和。
10.如权利要求9所述的监控电路,其中所述监控电路配置成在观测窗期间监控所述可变性计算器的输出,并且将所述可变性计算器的最大模数输出与所述阈值进行比较。
11.一种包括如权利要求1所述的监控电路的通信设备。
12.一种用于监控系统的电路,其中所述系统内的计数器对所述系统的参数进行计数,所述计数器响应于系统事件而周期性地复位,并且其中在自所述系统事件起的预定时间之后通过所述计数器计数的值的变差表示所述系统内的可变性,所述电路包括:
一个或多个存储元件,其用于存储所述计数器的至少一个值;
可变性计算电路,其配置成:
将所述计数器的值与所述计数器的前值进行比较以生成比较结果,以及
输出电路,其配置成响应于所述比较结果输出指示所述系统的状态的状态信号。
13.一种监控锁相环PLL的性能的方法,其中所述锁相环包括设置为分数分频器的部分的至少第一计数器,所述方法包括:
自触发事件起的预定时间之后重复地获得所述第一计数器的值;
比较连续的计数值达第一次数,
处理所述第一次数的比较以获得度量可变性,以及
基于所述处理来输出所述PLL的锁定状态。
14.如权利要求13所述的方法,其中所述处理包括:将所述第一次数的比较求和第二次数,以及将求和的结果与值的范围进行比较以确定所述锁相环的锁定状态。
15.如权利要求13所述的方法,其中所述第一次数是可调节的。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于亚德诺半导体集团,未经亚德诺半导体集团许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410453627.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。