[发明专利]实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统

说明书

技术领域

本发明属于液晶模组的显示领域和测试技术领域，具体地指一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统。

背景技术

具有MIPI接口的显示屏广泛应用于现代的智能手机、平板等电子设备。在MIPI显示模组大规模的生产过程中，MIPI模组出厂前的配置测试是很重要的一个环节，需要使用到读取和设置MIPI模组内部寄存器的技术，来完成点屏测试、Vcom调节、MTP烧录等生产流程。桥接芯片在VIDEO模式或COMMAND模式下通过内部的转换机制将输入的信号发送至VIDEO模式或COMMAND模式的MIPI模组显示。VIDEO模式是指主机传输到液晶模组采用实时像素流，而且是以高速传输信号的模式，而COMMAND模式是指采用发送命令和数据到具有显示缓存的控制器的传输信号的模式。

现阶段MIPI模组测试系统仅适用于VIDEO模式的MIPI模组，对桥接芯片进行配置的方案是采用SPI通道和RGB数据通道两个独立通道分别传输参数配置数据和图像数据，然而，桥接芯片工作于COMMAND模式时，其用于传送配置参数的SPI接口处于关闭状态，因此目前的MIPI模组测试系统不能进行COMMAND模式MIPI模组的点屏测试。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明提出了能够完成COMMAND模式MIPI模组的点屏测试，并能够进行Vcom调节、模组ID设置、MTP信息烧录等功能的实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统。

为实现上述目的，本发明所设计的一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：

1)PG图像发生器根据MIPI模组的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA；

2)所述MCU根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA；

3)所述FPGA通过LVDS数据总线接口接收图像数据信号，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片；

4)所述桥接芯片发送DCS指令配置MIPI模组，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组，所述MIPI模组根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。

优选地，所述步骤4)之后还包括Vcom调节测试步骤：所述MCU通过FPGA向桥接芯片转发DCS指令调节MIPI模组的Vcom寄存器参数，使屏幕闪烁度最小。

优选地，所述步骤4)之后还包括MTP烧录步骤：所述MCU将MIPI模组的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数转化为DCS指令并通过FPGA发送至桥接芯片，所述桥接芯片根据DCS指令将所接收的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数发送至MIPI模组，并按模组烧录流程烧录至MIPI模组的OTP区域。

优选地，所述MTP烧录步骤之后还包括读取模组ID步骤：所述MCU通过FPGA向桥接芯片转发DCS指令读取MIPI模组的OTP区域的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数并一一与设定值相比较，如果相同，测试结束；如果不同，重复MTP烧录步骤。

一种用于上述实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法的测试系统，其特殊之处在于，包括PG图像发生器、MCU和FPGA，所述PG图像发生器分别与MCU和FPGA连接，所述MCU与FPGA通过EBI接口连接，所述FPGA通过桥接芯片与MIPI模组连接，所述PG图像发生器用于设置寄存器配置参数和图像数据；所述MCU用于将从PG图像发生器接收的寄存器配置参数转化为DCS指令发送至FPGA；所述FPGA用于将从PG图像发生器接收的图像数据与DCS指令打包后发送至桥接芯片。

进一步地，所述FPGA包括EBI模块、数据处理模块和时序接口电路，所述EBI模块将从MCU接收的DCS指令发送至时序接口电路，所述数据处理模块将从PG图像发生器接收的图像数据发送至时序接口电路，所述时序接口电路将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片。

本发明的工作原理为：PG图像发生器发出的图像信号经过FPGA解码生成桥接芯片能够读取的图像数据，MCU从上层软件获取MIPI模组的内部寄存器配置信息，并将配置信息转化为DCS指令后，FPGA将DCS指令与图像数据打包后以转发的方式传送至桥接芯片，最终由桥接芯片的MIPI D0通道完成配置参数的传输。

与现有技术相比，本发明的有益效果包括：

(1)能够实现COMMAND模式MIPI模组的点屏测试；