[发明专利]数据处理的方法、装置和设备

说明书

技术领域

本公开的实施例涉及错误检测和错误纠正的延伸，特别是涉及利用和增强错误纠正机制和错误纠正代码。

背景技术

现有技术中，存在多种用于数据处理中的错误检测、纠正的方法，但这些数据处理的技术往往存在过程消耗、效率、速度等等方面的问题。

因此，亟需能对上述问题进行改进的数据处理方法。

发明内容

第一个实施例涉及用于数据处理的方法，该方法包括读取数据以及确定该数据每个部分的状态，该数据包括开销信息(overhead information)和有效载荷信息(payload information)，其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态中的至少一种。该方法进一步包括对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于开销信息进行解码。

第二个实施例涉及用于数据处理的装置，其中该装置包括配置为读取数据的处理单元，该数据包括开销信息和有效载荷信息。该处理单元进一步配置为确定该数据的每个部分的状态，其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态中的至少一种。该处理单元还进一步配置为对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并基于开销信息进行解码。

第三个实施例涉及用于数据处理的设备，特别是用于错误检测和错误纠正的设备。该设备包括用于读取数据的装置以及用于确定该数据的每个部分的状态的方法，该数据包括开销信息和有效载荷信息，其中该状态包括第一二进制状态、第二二进制状态和未定义状态中的至少一种。该设备进一步包括对具有未定义状态的数据的至少一个部分基于其位置并且基于开销信息进行解码的装置。

附图说明

参考附图，实施例被示出并说明。附图用于说明基本原理，因此仅描述了对理解基本原理所必须的方面。附图不是按比例的。在附图中，相同附图标记表示相似特征。

图1A和图1B各自示出了总结差分读取存储器器件的单元对的电位状态“0”、“1”和“X”的表格；

图2示出了代码和属性的汇总表；

图3示出了包括了适用于差分读取非易失性存储器(NVM)的单元对的如图2所示的相同代码的表格。

具体实施方式

介绍的示例特别地涉及在读取期间具有未定义的比特指示(bit indication)的特征的存储器。

当被读取时，这种存储器不仅为每个比特指示两个二进制状态“0”和“1”，而且为未定义的比特(undefined bit，即不能够基于有效信息的或者读取结果(非常)不确定的比特)额外地生成指示“X”。

由指示“X”给出的附加信息可以被利用来优化错误纠正代码。

示例可应用于具有差分读取的非易失性存储器(NVM)。然而，这个构思可与任何存储器或者甚至在总线等之上发送的任何数据集(data set)结合使用，此时附加的未定义的比特指示能够被利用。

在VNM中(例如，甚至是在大量的写入/清除周期之后)差分读取的引入提高了可靠性，但是每个数据比特(data bit)需要两个NVM单元(也称为单元对)。

根据该单元对的两个单元(即，具有t＝真(true)和c＝补(complement)的cell_t和cell_c)的状态，被存储的数据比特的状态可基于图1A所示的表格确定。图1B示出了不同编码方案的可选的示例。在下文中使用了依照图1A所示的示例的编码方案。

因此，通常存储器的两个相关联的NVM单元存储互补的信息，即它们具有相反的状态。如图1所示，仅具有互补单元的比特能被成功地解码，即单元对的两个单元其中的一个必须处于被写入状态并且另一个必须处于被擦除状态，以允许成功的数据解码。

在出现错误的情况下，单元中的一个可能已翻转(flipped)其状态(或者单元其中的一个的读出已被扰乱，使效果看起来像是该单元已经翻转其状态)，这可能导致被解码的“X”状态。应该注意的是，两个单元均可已经翻转它们的状态至相反方向，并且因此该比特数据(bit data)被翻转。这种情况在下面进行讨论。

如果没有“X”指示，针对故障比特(failing bit)，来自[“0”，“1”]的随机值被读取，并且后续的ECC单元可用来确定该故障比特的位置和它的正确值。

根据本文提供的示例，对“X”的利用允许鉴别故障比特的位置。这种认识能用于具有较少开销的改进ECC或者用于较高的纠正能力。

如示例实施例，三种不同的ECC类型将被介绍。但是，提出的解决方案可用于这些实施例和其他的实施，从而提高纠正能力。