[发明专利]无创的突触可塑性检测方法在审
| 申请号： | 201410444442.5 | 申请日： | 2014-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN105455807A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 张晨;方贻儒 | 申请（专利权）人： | 上海市精神卫生中心 |
| 主分类号： | A61B5/0484 | 分类号： | A61B5/0484 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 冯子玲 |
| 地址： | 200071 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 突触 可塑性 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种无创的突触可塑性检测方法，其特征在于，包括：
将磁刺激发射装置的单脉冲TMS设置为靶脑区簇神经元的刺激模式；
将所述磁刺激发射装置固定于待检测脑部区域的皮质处，以使得所述单脉 冲TMS对待检测脑部区域进行TMS刺激；
采用脑电信号采集装置收集TMS刺激后的神经元反应信号并将所述神经元 反应信号传输至计算机；
对所述神经元反应信号进行还原处理，得到脑地形图以显示突触可塑性变 化情况。
2.如权利要求1所述的无创的突触可塑性检测方法，其特征在于，所述磁 刺激发射装置的单脉冲TMS的频率为20Hz。
3.如权利要求1所述的无创的突触可塑性检测方法，其特征在于，所述磁 刺激发射装置的单脉冲TMS的频率为100Hz。
4.如权利要求1所述的无创的突触可塑性检测方法，其特征在于，所述脑 电信号采集装置采用多导EEG设备。
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