[发明专利]一种中央处理器性能测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种中央处理器性能测试方法及系统。

背景技术

目前，在电子设备上有很多的设备性能测试软件，这些软件可以测试CPU或者存储器访问的性能，并给出量化的数值。但是，对于芯片设计人员来说，目前很难在设计阶段就得到各种测试软件的具体性能数值，只能得到大概的数据，而真实数据都要等到真实设备生产出来后才能进行软件性能仿真测试。

发明内容

未解决上述问题，本发明提供一种中央处理器性能测试方法及系统，实现在电路设计阶段就可以针对性能运行软件仿真，并得到具体而真实的性能数据。

本发明提供一种中央处理器性能测试方法，所述方法包括：(a)制定测试计划，所述测试计划包括配置所述中央处理器配置信息以及确定所述配置信息中所需测试的性能参数；(b)写入所述中央处理器配置信息，将所需测试的性能参数赋值为第一参数值；(c)根据所述中央处理器配置信息形成相应的中央处理器参数化电路，以及确定DDR类型和测试软件从而对所已经赋值为第一参数值的述所需测试的性能参数进行测试；(d)产生并保存性能测试数据；(e)确定循环测试结束后，输出性能测试结果。

优选地，步骤(d)之后，所述方法还包括：(f)改变所述所需测试的性能参数的赋值为第N参数值，保持所述中央处理器配置信息的其他性能参数不变，循环执行所述步骤(c)、(d)直至所述所需测试的性能参数的全部赋值完成测试。步骤(e)还包括：确定循环测试结束后，输出性能测试结果。

优选地，步骤(e)所述的确定循环测试结束为：根据定义所述所需测试的性能参数的赋值的数量来判定循环测试是否结束。

优选地，步骤(e)所述的输出性能测试结果为：结合对所需测试的性能参数进行的N次测试而产生的N个测试结果产生一性能测试报告。

优选地，步骤(d)所述的产生并保存性能测试数据的步骤具体为：产生并保存所述性能测试数据，并对所述性能测试数据进行打分评估。

本发明还提供一种中央处理器性能测试系统，所述系统包括：总配置单元，用于根据测试计划进行中央处理器配置信息的设置和确定所述配置信息中所需测试的性能参数，并将所需测试的性能参数赋值为第一参数值，以及根据所述中央处理器配置信息确定所需选用的DDR类型与测试软件；运行程序选择单元，用于根据所述总配置单元选定的测试软件启动并运行相应的测试软件，以利用所述测试软件对已经赋值为第一参数值的所需测试的性能参数进行测试；DDR选型单元，用于根据所述总配置单元确定所需选用的DDR类型调用相应的DDR，以评估由所述中央处理器配置信息形成的中央处理器参数化电路；性能评估数据输出单元，用于记录所述选定的测试软件对所需测试的性能参数进行测试所产生的测试结果以及所述调用的DDR对所述处理器参数化电路的评估结果；输出控制单元，用于在测试结束后控制所述性能评估数据输出单元输出性能测试结果。

优选地，所述总配置单元还用于改变所述所需测试的性能参数的赋值为第N参数值，保持所述中央处理器配置信息的其他性能参数不变；所述运行程序选择单元启动并运行的所述测试软件对所述改变赋值的所需测试的性能参数进行循环测试，所述输出控制单元确定循环测试结束后输出所述性能测试结果。

优选地，所述输出控制单元确定循环测试结束为：根据定义所述所需测试的性能参数的赋值的数量来判定循环测试是否结束。

优选地，所述输出控制单元还用于结合对所需测试的性能参数进行的N次测试而产生的N个测试结果产生一性能测试报告。

优选地，所述选定的测试软件对所述性能评估数据输出单元中的测试性能数据进行打分评估。

本发明提供的一种中央处理器性能测试方法及系统，在电路设计阶段，通过对CPU配置信息的设置以及选择相应的打分软件和DDR对该配置信息下的所需测试性能参数进行测试，以产生相应的测试结果(例如，测试报告、打分结果)，从而实现了在电路设计阶段就可以进行针对性能的软件仿真测试，并得到具体而真实的性能数据。

附图说明

图1为本发明实施方式中的CPU性能测试方法的流程图；

图2为本发明实施方式中的CPU性能测试系统的结构示意图。

标号说明：

系统20

总配置单元21

运行程序选择单元22

DDR选择单元 23

输出控制单元24

性能评估数据输出单元25

具体实施方式