[发明专利]基于太赫兹频段的物品特征提取方法和装置

权利要求书

1.一种基于太赫兹频段的物品特征提取方法，其特征在于，包括：

将待测的物品放置于太赫兹光路中，测量其太赫兹时域波形数据；

对得到的太赫兹时域波形数据进行快速傅里叶变换，得到所述物品的太赫兹频域波形数据；

根据所述物品的太赫兹频域波形数据以及参考太赫兹频域波形数据，计算出所述物品的吸收谱数据作为提取出的所述物品的特征数据；

其中，所述参考太赫兹频域波形数据是预先计算得到的：在所述太赫兹光路中，测量没有所述待测物品的情况下的太赫兹时域波形数据，作为参考太赫兹时域波形数据；将所述参考太赫兹时域波形数据进行快速傅里叶变换，得到所述参考太赫兹频域波形数据。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述物品的太赫兹频域波形数据以及参考太赫兹频域波形数据，计算出所述物品的吸收谱数据，具体包括：

针对所述物品的太赫兹频域波形数据中的每个频点，根据所述物品的太赫兹频域波形数据、以及参考太赫兹频域波形数据在该频点的fft幅值，计算所述物品在该频点的吸收系数；

由计算得到的所述物品在各频点的吸收系数组成所述物品的吸收谱数据。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述物品的太赫兹频域波形数据、以及参考太赫兹频域波形数据在该频点的fft幅值，计算所述物品在该频点的吸收系数，具体为：

根据如下公式7，计算所述物品在该频点ω的吸收系数α(ω)：

α(ω)=1d·ln(Ir(ω)Is(ω))]]>…………………………(公式7)

其中，d为所述物品沿太赫兹频段的电磁波入射方向的厚度；I_r(ω)、I_s(ω)分别表示所述参考太赫兹频域波形数据在频点ω的fft幅值的平方、所述物品的太赫兹频域波形数据在频点ω的fft幅值的平方。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述计算出所述物品的吸收谱数据后，还包括：

从所述违禁样品的吸收谱数据的各波峰中选取出特征峰，将选取出的特征峰的数据也作为提取出的所述物品的特征数据进行存储。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述从所述违禁样品的吸收谱数据的各波峰中选取出特征峰，具体包括：

选取所述违禁样品的吸收谱数据的各波峰中峰值最高的波峰作为特征峰；或者

针对所述违禁样品的吸收谱数据的每个波峰，以该波峰为中心的设定频段，若该波峰的峰值最高，则将该波峰作为特征峰。

6.如权利要求1-5任一所述的方法，其特征在于，在所述计算出所述物品的吸收谱数据作为提取出的所述物品的特征后，还包括：

将所述物品的特征数据与预先提取的若干样品的特征数据进行比较，以对所述物品进行识别。