[发明专利]一种光导测试装置

权利要求书

1.一种光导测试装置，其特征在于，包括：自上而下依次连接的放射源盒、晶体盒、光电倍增管盒以及底板；

所述放射源盒包括：放射源、放射源盒盖以及放射源盒体；所述放射源方向朝下放置在所述放射源盒体内；所述放射源盒盖位于所述放射源盒体上端；所述放射源盒体的底部设有通孔；

所述晶体盒包括：晶体盒体、晶体盒盖、晶体盒固定板、晶体模块以及待测光导；所述晶体盒体通过所述晶体盒固定板固定在所述待测光导上方；所述晶体模块以及待测光导位于所述晶体盒内，所述晶体盒盖位于所述晶体盒体上端；所述晶体盒盖以及晶体盒体均为避光材质；

所述待测光导通过多个弹簧夹片固定在所述光电倍增管盒上方；所述光电倍增管盒固定于所述底板上；所述光电倍增管盒内设有多根光电倍增管；

所述光电倍增管盒外部设有接插件板，所述接插件板上设有高压电源输入端与数据输出端；所述高压电源输入端与所述光电倍增管的电源输入端连接；光电倍增管的信号输出端通过所述数据输出端与探测器测试平台连接。

2.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述晶体模块包括：晶体阵列、工装定位板以及工装定位块；所述晶体阵列包括：晶体工装和晶体条；所述晶体工装设有多个网格，所述晶体条放置于所述网格之中；所述工装定位板固定在所述光电倍增管盒盖上；所述晶体工装通过所述工装定位块与所述工装定位板连接。

3.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述待测光导外围包有铝箔；所述待测光导表面设有多条缝隙；所述缝隙中填充有反射层。

4.如权利要求2所述的光导测试装置，其特征在于，所述晶体阵列包括至少一个所述晶体条。

5.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述放射源为γ射线放射源。

6.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述光电倍增管盒与所述底板之间设有密封条。

7.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述光电倍增管安装在光电倍增管装配体上，所述光电倍增管盒内设有用于固定所述光电倍增管装配体的固定板；所述光电倍增管装配体通过螺钉安装在所述固定板上。

8.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述光电倍增管盒顶端外围设置有密封圈；所述光电倍增管盒的材质为避光材质。

9.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述弹簧夹片的材质为弹簧钢。

10.如权利要求1所述的光导测试装置，其特征在于，所述放射源盒的材质为屏蔽材质。