[发明专利]透镜阵列定位检测装置有效
| 申请号: | 201410421217.X | 申请日: | 2014-08-25 |
| 公开(公告)号: | CN105466850B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
| 发明(设计)人: | 冯世贵;李虎;林伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市绎立锐光科技开发有限公司 |
| 主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/958;G01M11/02;G01B5/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518055 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | lens array 定位 检测 装置 | ||
本发明提供了一种透镜阵列定位检测装置,出光通道安装到支座上,光源封装件设置在出光通道的入光端,透镜阵列通过透镜阵列安装孔安装到出光通道内,光源封装件提供的照射光源照射到透镜阵列上后由出光通道射出,出光通道的出光端设置有连接积分球测量仪器的积分球对准块。通过设置透镜阵列定位检测装置不仅可以方便的完成透镜阵列在检测过程中的安装,同时可以利用积分球测量器对产品的质量进行准确的测量,提高了生产效率,保证了产品的质量。
技术领域
本发明涉及舞台设备技术领域,更具体地说,涉及一种透镜阵列定位检测装置。
背景技术
透镜阵列(透镜阵列)具有改善光线均匀性及使光线准直的效果,广泛应用于舞台灯、投影仪等设备。为了保证出光效果,需要对透镜阵列的来料进行质量检测。
现有的检测手段采用目测和游标卡尺测量相结合的方式。员工通过眼睛观察透镜阵列物料的外观表面,来判断物料表面是否存在如刮花、平面弯曲变形、球面不分布均匀等外观不良现象。另外,为了保证透镜阵列物料的尺寸要求,通过游标卡尺测量透镜阵列物料的长、宽、厚尺寸。
然而,采用上述检测方式存在很多缺点和不足,如对透镜阵列物料的尺寸进行检测时,由于测量参数多,员工作业不方便,导致检测耗时长,且游标卡尺的测量准确度低,影响对透镜阵列尺寸参数的测量结果。现有的外观检测方法为员工通过眼睛目测透镜阵列的外观不良现象(如如刮花、平面弯曲变形、球面不分布均匀等),因此无法准确的测量和判断舞台灯物料的光均匀性、镀膜波段和球曲面角度等参数,难以保证舞台灯、投影仪等产品的质量。
因此,如何提高对透镜阵列质量检测的准确性,是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种透镜阵列定位检测装置,以实现提高对透镜阵列质量检测的准确性。
为了达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种透镜阵列定位检测装置,包括支座,设置于所述支座上的出光通道,所述出光通道的入光端设置有光源封装件,所述出光通道的侧壁上开设有安装透镜阵列的透镜阵列安装孔;所述出光通道的出光端设置有连接积分球测量仪器的积分球对准块。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述出光通道包括框状结构的机架,分别设置于所述机架顶部的顶盖封板和设置于所述机架两侧壁的第一封板与第二封板;所述透镜阵列安装孔设置于所述第二封板上。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,还包括与所述透镜阵列安装孔插装配合,固装所述透镜阵列的透镜阵列固定块,所述透镜阵列固定块包括透镜阵列固定框和设置于所述透镜阵列固定框内安装所述透镜阵列的透镜阵列安装槽。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述透镜阵列安装槽为开槽尺寸对应标准外形透镜阵列尺寸的安装槽。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述透镜阵列固定框内设有沉入其内的限位框,所述透镜阵列安装槽设置于所述限位框内,所述限位框的边角位置设有限位磁铁块,所述限位框上还设置有盖设于所述透镜阵列的边缘并与所述限位磁铁块磁力配合的磁铁吸附框。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述透镜阵列固定框的推送端设置有推拉所述透镜阵列固定框的推送把手;所述透镜阵列固定框的伸入端设置有沿其宽度方向开设的销钉限位孔,所述第一封板的内壁设置有与所述销钉限位孔配合,对所述透镜阵列固定框进行限位的限位销钉。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述支座上还设置有位于所述出光通道的入光端,对所述光源封装件进行散热的散热器;所述积分球对准块和所述出光通道之间设置连接二者的光源限位块。
优选地,在上述透镜阵列定位检测装置中,所述支座包括支撑所述出光通道和所述散热器的底板,和设置于所述底板的底部对其进行支撑的支撑柱。
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