[发明专利]一种非易失性存储器测试装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种非易失性存储器测试装置及其测试方法。

背景技术

目前，在地铁车辆车门控制器上使用两种非易失性存储器，当存储器出现了故障，为了判断芯片故障原因，需要用到测试装置，而市面上采购到的非易失性存储器测试装置有以下两点缺点和局限性：1、只能够进行普通的全读和全写操作来判断非易失性存储器是否出现数据突变，这种测试无法判断出非易失性存储器出现故障的具体原因；2、不能对非易失性存储器进行掉电测试，因此检测不出掉电丢失数据的情况。

发明内容

针对上述不足之处，本发明要解决的技术问题是提供一种非易失性存储器测试装置及其测试方法，能够分别对两种存储器进行掉电测试，能够分别快速检测出这两种存储器的掉电不丢失数据的功能是否正常，并且可以找出存储器发生故障的具体原因。

为解决以上技术问题，本发明采用了以下技术方案：

一种非易失性存储器测试装置，包括通信接口、单片机、地址锁存器，所述通信接口与单片机通信连接，所述单片机与所述地址锁存器通信连接，所述地址锁存器分别与待测试的第一存储器和第二存储器通信连接，所述第一存储器与第二存储器与所述单片机通信连接，所述单片机还分别与所述第一存储器和第二存储器的供电引脚连接，所述单片机和第一存储器的供电引脚之间连接有第一三极管，所述第一三极管的基极与单片机连接，集电极与5V供电电池连接，发射极与第一存储器的供电引脚连接，所述单片机和第二存储器的供电引脚之间连接有第二三极管，所述第二三极管的基极与单片机连接，集电极与5V供电电池连接，发射极与第二存储器的供电引脚连接，所述单片机还分别与第一存储器和第二存储器的片选引脚连接，所述单片机与所述第一存储器的片选引脚的交点以及所述单片机与所述第二存储器的片选引脚的交点还分别与片选开关的选择端连接，所述片选开关的控制端接地。

所述第一三极管的基极与第一电阻和第八电阻的交点连接，集电极与所述第一电阻均与5V供电电池连接，发射极与所述第一存储器连接，所述第八电阻与所述单片机连接；所述第二三极管的基极与第二电阻与第九电阻的交点连接，集电极与所述第二电阻均与5V供电电池连接，发射极与所述第二存储器连接，所述第九电阻与所述单片机连接。

所述单片机与所述第一存储器之间串联连接有第二片选指示灯和第四电阻，所述第二片选指示灯和第四电阻串联后与第五电阻并联连接，所述第二片选指示灯与第五电阻还与5V供电电池连接，所述单片机与所述第二存储器之间串联连接有第一片选指示灯和第六电阻，所述第一片选指示灯与第六电阻串联连接后与第七电阻并联连接，所述第一片选指示灯与所述第七电阻还与5V供电电池连接。

所述单片机还分别与第一数据读写指示灯和第二数据读写指示灯连接，所述第一数据读写指示灯与所述第二数据读写指示灯均与5V供电电池连接。

所述单片机连接有第二电容和第三电容，所述第二电容和第三电容并联连接后与第一电容和第三电阻串联连接。

所述单片机还分别与第一测试按钮、第二测试按钮、第三测试按钮和第四测试按钮连接，所述第一测试按钮、第二测试按钮、第三测试按钮和第四测试按钮均接地。

所述通信接口包括单电源转换芯片、串口、第一烧录指示灯与第二烧录指示灯，所述单电源转换芯片分别与所述单片机与所述串口连接，所述第一烧录指示灯与所述第十电阻串联连接并通过第十电阻分别与单电源转换芯片与单片机连接，第二烧录指示灯与第十一电阻串联连接并通过所述第十一电阻分别与单电源转换芯片与单片机连接，所述第一烧录指示灯与所述第二烧录指示灯还与5V供电电池连接。

一种采用所述的非易失性存储器测试装置进行离线测试的方法，包括以下步骤：

(1)通过片选开关将待测存储器的片选管脚接地；

(2)单片机控制待测存储器得电；

(3)对待测存储器进行数据写入；

(4)单片机控制待测存储器失电；

(5)单片机控制待测存储器得电；

(6)单片机读取待测存储器的内容并与写入内容进行匹配，根据匹配结果判断掉电测试是否通过。

一种采用所述的非易失性存储器测试装置进行数据突变测试的方法，包括以下步骤：

(1)通过片选开关将待测存储器的片选管脚接地；

(2)单片机控制待测存储器得电；

(3)对待测存储器所有的数据同时写1；

(4)将步骤(3)中所有的数据全部突变为0；

(5)重复上述步骤，测试其故障点。