[发明专利]高压LED芯片及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201410414612.5 申请日: 2014-08-21
公开(公告)号: CN104134724A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 吴飞翔;李庆;晏平;陈立人 申请(专利权)人: 聚灿光电科技(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/48;H01L33/20
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 常亮
地址: 215123 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 高压 led 芯片 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种高压LED芯片,其包括衬底、位于衬底上的GaN外延层、及位于外延层上的透明导电层、P电极及N电极,所述GaN外延层包括P型GaN外延层、发光层、及N型GaN外延层,P电极位于透明导电层上且通过透明导电层与P型GaN外延层电性连接,N型GaN外延层上设有N型半导体台面,N电极位于N型半导体台面上,其特征在于,所述GaN外延层之间通过离子注入形成有一个或多个绝缘的离子注入区,离子注入区上方形成有金线,所述GaN外延层和透明导电层通过金线电性导通。

2.根据权利要求1所述的高压LED芯片,其特征在于,所述离子注入区设置为一个,离子注入区将GaN外延层分隔成第一GaN外延层和第二GaN外延层。

3.根据权利要求2所述的高压LED芯片,其特征在于,所述第一GaN外延层和第二GaN外延层上分别设置有第一透明导电层和第二透明导电层,第一透明导电层上设置有P电极,第二透明导电层旁侧的N型半导体台面上设置有N电极。

4.根据权利要求3所述的高压LED芯片,其特征在于,所述第一透明导电层与第二透明导电层旁侧的N型半导体台面通过金线电性导通。

5.根据权利要求1所述的高压LED芯片,其特征在于,所述透明导电层下方还设置有电流阻挡层。

6.一种如权利要求1所述的高压LED芯片的制备方法,其特征在于,所述方法包括:

S1、提供一衬底,在衬底上生长GaN外延层,GaN外延层包括P型GaN外延层、发光层、及N型GaN外延层;

S2、在GaN外延层形成Mesa图形,将Mesa图形外的区域刻蚀至N型GaN外延层,形成N型半导体台面;

S3、通过掩膜版对GaN外延层进行离子注入,形成一个或多个绝缘的离子注入区;

S4、在GaN外延层上形成透明导电层;

S5、在透明导电层上形成P电极,在N型半导体台面上形成N电极;

S6、在离子注入区上方形成金线,GaN外延层和透明导电层通过金线电性导通。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S3中掩膜版为SiO2或SiNx掩膜版,离子注入的离子为Si或B离子。

8.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S5之前还包括:

采用PECVD进行SiO2沉积,再通过光刻、刻蚀得到电流阻挡层。

9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述S4具体为:

采用电子束蒸发或磁控溅射沉积ITO薄膜,再通过光刻、刻蚀得到透明导电层。

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