[发明专利]一种光刻机平衡质量系统有效
申请号: | 201410412001.7 | 申请日: | 2011-05-31 |
公开(公告)号: | CN104181778A | 公开(公告)日: | 2014-12-03 |
发明(设计)人: | 夏海;陈庆生 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光刻 平衡 质量 系统 | ||
1.一种光刻机平衡质量系统,其特征在于,包括:
基础框架;
大理石平台,固定于所述基础框架上;
微动台,通过第一垂向气浮垫支撑于所述大理石平台上,且沿X方向及Y方向相对于所述大理石平台运动;
平衡质量块,通过第二垂向气浮垫与所述基础框架相连,所述第二垂向气浮垫固定于所述基础框架上,且所述平衡质量块的运动情况与所述微动台的运动情况相反;以及
反力矩缓冲机构,与所述基础框架及所述平衡质量块相连,用于消除所述平衡质量块运动过程中因重心偏移产生的力矩,并且衰减所述平衡质量块向所述基础框架传递的振动;
所述反力矩缓冲机构为柔性铰链,所述柔性铰链的一端与所述基础框架刚性相连,另一端与所述平衡质量块刚性相连;所述柔性铰链沿X向和Y向具有第一刚度,沿Z向具有第二刚度,所述第一刚度小于所述第二刚度。
2.如权利要求1所述的光刻机平衡质量系统,其特征在于,所述第一刚度为103~104N/m。
3.如权利要求2所述的光刻机平衡质量系统,其特征在于,所述第二刚度为107~108N/m。
4.如权利要求3所述的光刻机平衡质量系统,其特征在于,所述柔性铰链包括框架接口及平衡质量块接口,所述框架接口与所述基础框架相连,所述平衡质量块接口与所述平衡质量块相连。
5.如权利要求4所述的光刻机平衡质量系统,其特征在于,所述框架接口与所述基础框架之间,以及所述平衡质量块接口与所述平衡质量块之间通过螺钉或粘结方式相连。
6.如权利要求1至5任一项所述的光刻机平衡质量系统,其特征在于,所述柔性铰链的数量为四个,四个所述柔性铰链安装于所述基础框架的四个角处。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司;,未经上海微电子装备有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410412001.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。