[发明专利]一种基于近地表层的折射波静校正处理方法以及系统有效

专利信息
申请号: 201410408931.5 申请日: 2014-08-19
公开(公告)号: CN104181599B 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: 祖云飞;倪宇东;吕景峰;马青坡;韩淑敏;张月芹;李海翔 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 汤在彦
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 表层 折射波 校正 处理 方法 以及 系统
【权利要求书】:

1.一种基于近地表层的折射波静校正处理方法,其特征是,所述的方法包括:

采集地震资料;

从所述的地震资料中拾取出折射波初至;

确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量;

根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量;

根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量;

其中根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量包括:将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至,得到应用浮动基准面的静校正量的初至;根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至;根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量,所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征是,根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至包括:

获取共中心点面元的长以及宽;

获取控制点的间隔;

将所述的应用浮动基准面静校正量的初至通过共中心点道集的方式进行显示,得到初至显示;

在所述的初至显示上进行交互选择,确定出稳定折射层;

根据所述的稳定折射层进行插值获得每个共中心点面元上初至的偏移距范围;

根据所述的偏移距范围输出所述稳定折射层的初至。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征是,根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量包括:

根据所述的稳定折射层的初至确定所述稳定折射层的速度;

利用所述稳定折射层的速度对所述稳定折射层的初至进行线性动校正,得到线性动校正后的初至时间;

根据所述线性动校正后的初至时间构建方程组;

求解所述的方程组,得到折射剩余静校正量,所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量、检波点的折射剩余静校正量。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征是,在确定出所述稳定折射层的速度之后,根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量还包括:

获取预先设定的第一平滑半径;

所述稳定折射层的速度根据所述的平滑半径在平面上平滑,得到平滑后的稳定折射层的速度。

5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征是,根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量包括:

获取预先设定的第二平滑半径;

根据所述的第二平滑半径对所述的折射剩余静校正量进行平滑处理,得到平滑处理后的折射剩余静校正量;

根据所述的折射剩余静校正量以及平滑处理的折射剩余静校正量确定去低频后的折射剩余静校正量;

根据所述的水平基准面的静校正量以及去低频后的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量。

6.一种基于近地表层的折射波静校正处理系统,其特征是,所述的系统包括:

地震资料采集装置,用于采集地震资料;

折射波初至拾取装置,用于从所述的地震资料中拾取出折射波初至;

基准面静校正量确定装置,用于确定水平基准面的静校正量以及浮动基准面的静校正量;

折射剩余静校正量确定装置,用于根据所述浮动基准面的静校正量确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量;

最终静校正量确定装置,用于根据所述的水平基准面的静校正量以及所述的折射剩余静校正量确定所述地震资料的最终静校正量;

其中,所述的折射剩余静校正量确定装置包括:静校正量应用模块,用于将所述浮动基准面的静校正量应用到所述的折射波初至,得到应用浮动基准面的静校正量的初至;稳定折射层初至确定模块,用于根据所述应用浮动基准面的静校正量的初至确定稳定折射层的初至;折射剩余静校正量确定模块,用于根据所述稳定折射层的初至确定所述的地震资料对应的折射剩余静校正量,所述的折射剩余静校正量包括炮点的折射剩余静校正量以及检波点的折射剩余静校正量。

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