[发明专利]LED灯具加速老化、寿命推测测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测试验技术领域，特别涉及一种LED灯具加速老化、寿命推测测试装置及方法。

背景技术

现有的LED灯具加速老化和寿命测试系统采用高低温试验箱依据IESLM-80-08的要求对LED灯具进行试验规定中的55℃，85℃及第三个由制造商选择的温度进行老化测试，在整个加速老化测试中，湿度保持65RH以下即可，没有明确的湿度限制。

而LED灯具的光源封装包含LED芯片、荧光粉、胶体等材料。LED芯片除了对高温敏感外，对温度变化产生的材料热胀冷缩形变疲劳也很敏感。而荧光粉、胶体在使用过程中对环境的适应能力较弱，低温、高温、高低温交变、湿度、日光照射，都会对荧光粉和胶体产生较大的影响，从而产生光衰。

LED灯具除光源外，还包含驱动电源，驱动电源寿命除对高温敏感外，对低温、高低温交变冲击、开关次数、电网干扰、湿度也具有敏感性。

发明内容

基于上述问题，本发明目的是提供一种LED灯具加速老化、寿命推测测试装置，该测试装置能够模拟LED灯具实际使用环境，使得测试所得LED灯具寿命的数据更准确地反应LED灯具的实际使用性能。

本发明的另一目的是提供一种LED灯具加速老化、寿命推测方法。

为了克服现有技术的不足，本发明提供的技术方案是：

一种LED灯具加速老化、寿命推测测试装置，其特征在于：包括测试箱及与所述测试箱连接的控制装置，所述测试箱内设置上灯架和下灯架，所述上灯架和所述下灯架分别设置若干个灯具安装工位，所述上灯架用于安装LED灯具，所述下灯架用于安装白炽灯，所述测试箱内设置温度传感器，所述下灯架上设置光度、色度传感器；所述控制装置包括，

主控单元，其用于下发控制命令，接收、存储测试数据；

光电参数分析单元，用于对测试环境条件的控制以及完成测试数据的分析计算；

光谱仪，用于采集光通量、电参数及色温参数的测试数据并传输给所述光电参数分析单元；

开关控制单元，用于实现对灯具电路的自动化控制；

所述光电参数分析单元、光谱仪及开关控制单元与所述主控单元通讯连接，所述温度传感器与所述光电参数分析单元信号连接，所述光度、色度传感器与所述光谱仪信号连接，所述上灯架和所述下灯架与所述开关控制单元电连接。

进一步的，所述光电参数分析单元包括拟合模块、推算模块和测试环境控制模块；所述拟合模块用于完成LED灯具光通量维持特性曲线、温度特性曲线、温湿度特性曲线、色度温度特性曲线、灯功率时间变化曲线及灯功率光度变化曲线的拟合；所述推算模块根据所述拟合模块拟合所得的曲线推算LED灯具的寿命，以其中最小值作为推算结果；所述环境控制模块用于模拟LED灯具的实际使用环境，包括高温、低温、高低温交变冲击、湿度变化、灯具开关次数及太阳光照射。

作为总的发明构思，本发明还一种LED灯具加速老化、寿命推测方法，其包括以下步骤：

(1)将待测LED灯具安装在测试箱内部顶端的上灯架上；

(2)根据四季变化在主控单元设定所述测试箱内的温度的交替变化并设定25天为一季；

(3)根据实际日照时间设定所述测试箱底部的白炽灯点亮和熄灭的时间，同时设定LED灯具点亮和熄灭的时间，LED灯具点亮和熄灭的时间与白炽灯熄灭和点亮的时间相对应，即当白炽灯点亮时LED灯具熄灭，而当白炽灯熄灭时LED灯具点亮；

(4)所述测试箱内的光度传感器、色度传感器将LED灯具的光度、色度参数传送至光谱仪，所述光谱仪完成测试数据的采集并将测试数据传送至光电参数分析单元；

(5)所述光电参数分析单元完成LED灯具光通量维持特性曲线、温度特性曲线、温湿度特性曲线、色度温度特性曲线、灯功率时间变化曲线及灯功率光度变化曲线的拟合，并根据拟合的曲线推算LED灯具的寿命，以推算所得最小值作为LED灯具的寿命值。

与现有技术相比，本发明的优点是：

(1)采用本发明的技术方案，本发明提供的测试装置及方法能够模拟LED灯具实际使用环境，模拟四季的高温、低温、高低温交变冲击变化，灯具开关次数及太阳光照射对LED灯具寿命的影响，进一步精确地推测LED灯具寿命；

(2)采用本发明的技术方案，将LED灯具安装于测试箱内，通过主控单元下发测试命令即可进行LED灯具加速老化和寿命推测，全程自动化，测试所得结果快速准确。

附图说明