[发明专利]光纤性能测试方法、装置和系统

权利要求书

1.一种光纤性能测试方法，其特征在于，包括：

从光纤的测试始端向光纤的测试末端发送测试光信号；

接收所述测试光信号经过设置在所述测试末端的反射器的反射，反射回所述测试始端的反射光信号；

根据所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率，计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗；

根据所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗，确定所述光纤的性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗之前，还包括：

利用增设了光衰减器和光开关的光时域反射仪，测试所述测试光信号在所述测试始端的功率和所述反射光信号在所述测试始端的功率；

所述光时域反射仪包括激光器、环形器、耦合器、光衰减器、光开关、雪崩二极管、处理单元和连接器，所述光时域反射仪通过所述连接器与所述光纤的测试始端连接。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

由所述激光器发出的测试光信号经过所述环形器、所述耦合器后，一路由所述连接器进入所述光纤，另一路依次经过所述光衰减器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；

所述测试光信号在所述测试始端的功率Power_T为:

Power_T＝value₁+loss_cp₁-loss_cp₂+loss_os₁+loss_atn

其中，value₁为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp₁为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述光衰减器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_cp₂为所述测试光信号经过所述环形器、所述耦合器进入所述连接器时，所述耦合器对所述测试光信号的功率损耗；loss_os₁为所述测试光信号经过所述光衰减器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述测试光信号的功率损耗；loss_atn为所述测试光信号经过所述耦合器、所述光衰减器进入所述光开关时，所述光衰减器对所述测试光信号的功率损耗。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

到达所述连接器的反射光信号依次经过所述耦合器、所述环形器、所述光开关、所述雪崩二极管进入所述处理单元；

所述反射光信号在所述测试始端的功率Power_S2T为:

Power_S2T＝value₂+loss_cp₃+loss_crcl₃+loss_os₃

其中，value₂为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率；loss_cp₃为所述反射光信号经过所述连接器、所述耦合器进入所述环形器时，所述耦合器对所述反射光信号的功率损耗；loss_crcl₃为所述反射光信号经过所述耦合器、所述环形器进入所述光开关时，所述环形器对所述反射光信号的功率损耗；loss_os₃为所述反射光信号经过所述环形器、所述光开关进入所述雪崩二极管时，所述光开关对所述反射光信号的功率损耗。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述光纤对通过其传输的光信号的功率损耗Loss_ODN的计算公式为：

Loss_ODN＝(value₁-value₂+M)/2

其中，value₁为所述测试光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，value₂为所述反射光信号在进入所述雪崩二极管时的功率，M为校准值，M的值通过在所述光时域反射仪和所述反射器之间连接一个标准光分配网络测试得到，其中，所述标准光分配网络对通过其传输的光信号的功率损耗为已知值。