[发明专利]图像传感器及其去除太阳黑斑方法和去除太阳黑斑装置有效
| 申请号: | 201410394941.8 | 申请日: | 2014-08-12 |
| 公开(公告)号: | CN105338268B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
| 发明(设计)人: | 刘坤;郭先清;傅璟军 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/359 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
| 地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像传感器 及其 去除 太阳 黑斑 方法 装置 | ||
1.一种图像传感器的去除太阳黑斑方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取图像传感器像素阵列中像素单元的复位采样信号值;
根据预设采样信号阈值对所述复位采样信号值进行比较,并当所述复位采样信号值小于所述预设采样信号阈值时生成比较信号;
根据同步计数信号和所述比较信号生成所述复位采样信号值对应像素单元的位置信息;以及
以图像最亮值替换所述位置信息对应的所述复位采样信号值,以去除所述位置信息对应像素单元的太阳黑斑。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据同步计数信号和所述比较信号生成所述复位采样信号值对应像素单元的位置信息具体包括以下步骤:
对所述同步计数信号中的计数脉冲进行编号;以及
当所述复位采样信号值小于所述预设采样信号阈值时,以所述同步计数信号中计数脉冲的编号作为对应像素单元的位置信息。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述以图像最亮值替换所述位置信息对应的所述复位采样信号值之前,还包括以下步骤:
存储所述位置信息。
4.如权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述图像传感器为互补型金属氧化物半导体CMOS图像传感器。
5.一种图像传感器的去除太阳黑斑装置,其特征在于,包括:
复位采样信号值获取模块,用于获取图像传感器像素阵列中像素单元的复位采样信号值;
比较模块,用于根据预设采样信号阈值对所述复位采样信号值进行比较,并当所述复位采样信号值小于所述预设采样信号阈值时生成比较信号;
位置信息生成模块,用于根据同步计数信号和所述比较信号生成所述复位采样信号值对应像素单元的位置信息;以及
处理模块,用于以图像最亮值替换所述位置信息对应的所述复位采样信号值,以去除所述位置信息对应像素单元的太阳黑斑。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述位置信息生成模块具体用于:
对所述同步计数信号中的计数脉冲进行编号;以及
当所述复位采样信号值小于所述预设采样信号阈值时,以所述同步计数信号中计数脉冲的编号作为对应像素单元的位置信息。
7.如权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:
存储模块,用于存储所述位置信息。
8.如权利要求5-7中任一项所述的装置,其特征在于,所述图像传感器为互补型金属氧化物半导体CMOS图像传感器。
9.一种图像传感器,其特征在于,包括如权利要求5-8中任一项所述的图像传感器的去除太阳黑斑装置。
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