[发明专利]甚短基线光学测量目标定位方法

说明书

所属领域 

本发明专利属于航天测量与控制领域，涉及一种基于全微分算法的甚短基线光学测量目标定位方法。 

背景技术

目前，我国航天靶场试验中的光学跟踪测量设备，已逐渐利用多系统跟踪模式，这种多传感器跟踪可增强系统的可靠性和鲁棒性，为获得目标的高精度可靠性信息提供了有力的技术支持。伴随这种新测量体制的出现，相应地为我们的外弹道数据处理方法提出了新的挑战。为了适应后续测控网的发展，我们必须对这种测量体制的测元数据融合技术开展研究，根据多传感器的特性，结合外部环境条件，确定相应的算法和数学模型，完成目标状态的预测，寻找最佳的匹配、融合算法，实现高精度的外弹道数据处理目的。本发明依据全微分公式，根据测站站址差计算出测量元素，建立基于全微分方程的雷达-光电经纬仪联合定位模型，将经纬仪的高精度测角信息和雷达的高精度测距信息进行数据融合，确定飞行目标的空间位置。 

发明内容

在实验中，采用某光学测量设备及附近雷达站设备进行目标跟踪。利用这两台跟踪设备测量数据来完成运载火箭定位及精度结果的确定。 

本发明提出的甚短基线光学测量目标定位方法，具体过程包括如下步骤： 

步骤一：目标定位计算 

设经纬仪测得的方位角和俯仰角分别为A_1i、E_1i，雷达测距为R_2i，目标在发射坐标系中的标准位置坐标为x_i,y_i,z_i，x₀₁,y₀₁,z₀₁为第经纬仪站址坐标，x₀₂,y₀₂,z₀₂为雷达站址坐标，试求在目标在发射坐标系中的联合定位位置参数。 

由 

tgA1i=(zi-z01)(xi-x01),R1i=(xi-x01)2+(yi1-y01)2+(zi-z01)2]]>

进行微分得