[发明专利]光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置

说明书

本发明提供光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置。将光学构件作为被检查物向具有光源部和拍摄部的检查装置供给，使上述光学构件通过特定配置后的上述光源部与上述拍摄部之间而进行该光学构件的检查。

技术领域

本发明涉及光学构件的检查方法、光学产品的制造方法以及光学构件的检查装置，更详细而言，涉及具有用于向被检查物照射光的光源部和用于自相反一侧对被检查物的被该光源部照射有光的部位进行拍摄的拍摄部的检查装置、利用该检查装置来检查光学构件的方法以及使用该检查过的光学构件的光学产品的制造方法。

背景技术

以往，作为应用于图像显示装置等光学产品的光学膜而使用偏振膜(偏振片)。

在光学膜厂商处，该偏振膜是以例如在该偏振膜的至少一个面上借助粘合层层叠了保护膜而成的膜层叠体的状态实现产品化的。

并且，在光学产品厂商处，将偏振膜在剥离上述保护膜后安装于图像显示装置等。

另外，通常，偏振膜被连续地制作而成为长条的带状。

然后，偏振膜被制成在至少一个面上借助粘合层层叠了上述保护膜而成的膜层叠体，并将该膜层叠体以卷取成卷状的被称作原料卷(日文：原反ロール)的形式暂时保管。

之后，利用冲裁等将偏振膜自上述原料卷加工成具有规定形状的片材，该片材成为用于安装于光学产品的产品。

此外，上述原料卷未必在整个面上均是合格品，通常，在上述冲裁前，会输入到检查装置来检测缺陷部位。

作为用于检查该原料卷那样的片状的光学构件的检查装置，公知有如下类型的检查装置，该检查装置公知有具有光源部和拍摄部，在该检查装置中，一边使作为被检查物的光学构件沿水平方向通过在上下方向上相对配置的拍摄部与光源部之间，一边自下表面侧利用上述光源部向该光学构件照射光且自光学构件的上侧利用上述拍摄部拍摄该光照射部位而检测缺陷(参照下述专利文献1)。

另外，还公知有如下那样的检查方法：并不是以使光学构件呈水平状态的方式检查光学构件，而是以使光学构件的移动方向成为铅垂方向的方式进行检查(参照下述专利文献2)。

即，在以往的光学产品的制造方法中，实施检测片状的光学构件的缺陷的工序和从该工序后的光学构件中切出比该光学构件小的片材的工序，使用该片材来制造光学产品。

并且，检测上述光学构件的缺陷的工序通常是以如下方法进行的：将上述光学构件中的被来自上述光源部的光照射的光照射部位固定并将该光照射部位作为上述拍摄部所拍摄的拍摄部位，通过使光学构件通过该拍摄部与上述光源部之间而沿着该光学构件的长度方向依次检测缺陷。

专利文献1：日本特开2007－213016号公报

专利文献2：日本特开2009－069142号公报

发明内容

发明要解决的问题

在使用上述那样的检查装置的检查方法中，当然不能利用该检查装置检测在利用拍摄部进行拍摄后附着在光学构件上的附着物。

因而，为了防止附着物被带入到最终的光学产品中而使光学产品的成品率降低，要求在通过上述拍摄部位之后不产生附着物。

尤其是，光学构件是在最外表面具有粘合层且在该粘合层的背面侧上层叠有上述偏振膜的层叠体，使光学构件以该粘合层位于上表面侧的方式通过上述光源部与上述拍摄部之间，在以上那样的形态中，在粘合层的表面粘合力的作用下，附着物难以脱落，从而难以期待在拍摄后附着的附着物自然地从光学构件脱落。

因而，在这样的形态中，特别强烈要求在上述拍摄后不产生附着物。