[发明专利]一种软件测试方法及其设备

权利要求书

1.一种软件测试方法，其特征在于，包括：

当对待测软件中的待测功能进行测试时，根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息，包括根据缺陷数据信息计算待测软件的至少一个功能中各个功能的测试优先值，并获取根据所述各个功能的测试优先值所选择的功能，将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能，所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数；

获取根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景；

采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息，还包括：

分别计算所述待测功能中各个测试方法的测试效果值，并根据所述各个测试方法的测试效果值确定所述待测功能所采用的待测方法集；

根据所述待测软件的历史测试信息以及所述待测方法集中各个待测方法的测试效果值计算所述各个待测方法的测试场景数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述缺陷数据信息包括待测软件的至少一个功能中各个功能在预设的历史时间段内至少一个第一级别缺陷中各个第一级别缺陷的发生时间值和至少一个第二级别缺陷中各个第二级别缺陷的发生时间值；

所述根据缺陷数据信息计算待测软件的至少一个功能中各个功能的测试优先值，并获取根据所述各个功能的测试优先值所选择的功能，将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能，包括：

采用预设的时效性计算公式计算所述历史时间段内任一时间值对应的时效性系数；

根据所述各个功能的所述各个第一级别缺陷的发生时间值和所述各个第二级别缺陷的发生时间值，获取所述任一时间值的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量；

按照第一级别的属性和第二级别的属性，并根据所述任一时间值对应的时效性系数以及所述任一时间值的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量，计算所述各个功能在所述任一时间值的测试加权值；

将所述各个功能在所述历史时间段内的所有时间值的测试加权值的和设定为所述各个功能的测试优先值；

对所述各个功能的测试优先值进行排序，并获取根据排序后的所述各个功能的测试优先值所选择的功能，将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述分别计算所述待测功能中各个测试方法的测试效果值，并根据所述各个测试方法的测试效果值确定所述待测功能所采用的待测方法集，包括：

获取所述待测功能中各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量，并获取所述各个测试方法所检测的第二级别缺陷的数量；

按照第一级别的属性和第二级别的属性，并根据所述各个测试方法所检测的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量，计算所述各个测试方法的测试效果值；

对所述各个测试方法的测试效果值进行排序，并获取根据排序后的所述各个测试方法的测试效果值所选择的至少一个测试方法，根据所述所选择的至少一个测试方法生成所述待测功能所采用的待测方法集。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述历史测试信息包括至少一个历史测试任务中各个历史测试任务的历史测试场景的执行完成度和所述各个历史测试任务完成的历史测试场景的数量，所述各个历史测试任务用于指示对所述待测软件中至少一个待测功能进行历史测试；

所述根据所述待测软件的历史测试信息以及所述待测方法集中各个待测方法的测试效果值计算所述各个待测方法的测试场景数，包括：

在所述各个历史测试任务中获取历史测试场景的执行完成度小于预设阈值的至少一个第一测试任务，并获取所述至少一个第一历史测试任务中各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量；

对所述各个第一测试任务完成的历史测试场景的数量进行排序，并根据排序得到的数量队列生成预期测试场景数；

根据所述各个待测方法的测试效果值、所述待测方法集的测试效果值的总和以及所述预期测试场景数，计算所述各个待测方法的测试场景数。