[发明专利]蚀刻方法有效
申请号: | 201410381581.8 | 申请日: | 2014-08-05 |
公开(公告)号: | CN104425654B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 陈炯 | 申请(专利权)人: | 上海晶玺电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0224;H01L31/068 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所31283 | 代理人: | 薛琦 |
地址: | 200092 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 | ||
1.一种蚀刻方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1、提供一衬底,该衬底具有掺杂区域,该掺杂区域包括具有第一导电类型掺杂离子的第一掺杂区域和具有第二导电类型掺杂离子的第二掺杂区域,该衬底具有沟槽,该第一掺杂区域位于该衬底的上表面中,该第二掺杂区域位于该沟槽中;该衬底上覆盖有一金属层,该金属层包括具有第一厚度的第一部分和具有第二厚度的第二部分,该第一部分为覆盖于该第一掺杂区域和该第二掺杂区域上的金属层,该第二部分为位于该沟槽侧壁上的金属层,
步骤S2、采用蚀刻剂蚀刻该金属层,在蚀刻的同时对该金属层施加电流以使电流流经该第二部分直至该第二部分被完全蚀刻掉,其中,该第一厚度大于该第二厚度,
施加电流时,采用一第一探针作为正极施加在衬底的上表面,采用一第二探针作为负极施加到衬底的沟槽上;或者,采用一第一探针作为负极施加在衬底的上表面,采用一第二探针作为正极施加到衬底的沟槽上,
该第一掺杂区域和该第二掺杂区域以及位于该第一掺杂区域和该第二掺杂区域之间的衬底形成PN结,该电流的流向和该PN结的导通方向相反。
2.如权利要求1所述的蚀刻方法,其特征在于,步骤S1中通过蒸镀或者溅射的方式形成该金属层以使该第二部分薄于该第一部分。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的