[发明专利]用于测定信号源位置的装置无效

专利信息
申请号: 201410373327.3 申请日: 2014-07-31
公开(公告)号: CN104345317A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 汉斯·波伊塞尔;奥拉夫·齐曼;亚历山大·巴赫曼;米夏埃尔·卢贝 申请(专利权)人: 应用科学技术大学纽伦堡
主分类号: G01S17/36 分类号: G01S17/36
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 张天舒;张杰
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 测定 信号源 位置 装置
【权利要求书】:

1.一种用于测定信号源(1)的位置的装置,所述信号源是为了输出以调制频率进行调制的信号而设置的,所述装置具有:

一个导体(3),所述导体这样设置,即,所述导体在沿着所述导体的不同位置上接收经调制的信号,并且所述导体是用来在收到经调制的信号时将经调制的信号分别朝相反的方向传递给第一导体端部(5)和第二导体端部(5);

一个探测器(7),所述探测器用来在第一导体端部和第二导体端部上获取经调制的信号;以及

一个测定装置(9),所述测定装置用来:

测定在第一导体端部上获取的、经调制的信号与在第二导体端部上获取的、经调制的信号之间的相位差,以及

基于相位差测定信号源相对于导体的位置。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,进一步设计所述测定装置(9),从而:

基于相位差测定在第一导体端部(5)上获取的、经调制的信号的运行时间作为第一运行时间以及测定在第二导体端部(5)上获取的、经调制的信号的运行时间作为第二运行时间,

测定第一运行时间与第二运行时间之比,以及

基于第一运行时间与第二运行时间之比来测定信号源(1)的位置。

3.一种用来测定信号源(1)的位置的装置,所述信号源用来输出以调制频率进行调制的信号,所述信号能够耦合在导体(3)中的不同位置上并且沿着所述导体(3)朝相反的方向传递,其特征在于,所述装置的设置是用来:

测定在导体(3)的第一端部(5)上获取的、经调制的信号与在所述导体的第二端部(5)上获取的、经调制的信号之间的相位差,以及

基于所述相位差测定所述信号源相对于所述导体的位置。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,进一步设置所述装置,从而:

基于相位差测定在第一导体端部(5)上获取的、经调制的信号的运行时间作为第一运行时间以及测定在第二导体端部(5)上获取的、经调制的信号的运行时间作为第二运行时间,

测定第一运行时间与第二运行时间之比,以及

基于第一运行时间与第二运行时间之比来测定信号源(1)的位置。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的装置,其特征在于,信号源(1)和导体(3)可彼此相对移动。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的装置,其特征在于,所述导体(3)以环形形状构成。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的装置,其特征在于,所述导体(3)由至少一个导体区段构成。

8.根据权利要求1至7中任意一项所述的装置,其特征在于,由信号源(1)输出的信号是光学信号并且所述导体(3)是发荧光的光导纤维。

9.根据权利要求1至7中任意一项所述的装置,其特征在于,由信号源(1)输出的信号是电信号并且所述导体(3)是导电的导体。

10.根据权利要求1至7中任意一项所述的装置,其特征在于,由信号源(1)输出的信号是声学信号并且所述导体(3)是声学导体。

11.一种用来在两个围绕共同的轴彼此相对旋转的部件之间传输信号的仪器(15),所述仪器具有根据权利要求8至10中任意一项所述的装置,其特征在于,在一个部件上设置信号源(1)并且在另一个部件上围绕旋转轴设置导体(3)。

12.根据权利要求11所述的仪器(15),其特征在于,所述仪器是X射线计算机断层摄影装置。

13.根据权利要求11所述的仪器(15),其特征在于,所述仪器是雷达仪。

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