[发明专利]玉米籽粒剖面角质与粉质百分比的定量测定方法有效

专利信息
申请号: 201410362765.X 申请日: 2014-07-28
公开(公告)号: CN104197866B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 刘双喜;傅生辉;王金星;张春庆;孙乐秀;牟华伟;孟凡荣;范连祥 申请(专利权)人: 山东农业大学
主分类号: G01B11/28 分类号: G01B11/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 271018 *** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 玉米 籽粒 剖面 角质 百分比 定量 测定 方法
【权利要求书】:

1.一种玉米籽粒剖面角质与粉质百分比的机器视觉定量测定方法,其特征在于包括以下步骤:

S1:搭建机器视觉采集系统;

S2:采集尺寸标定图像,将采集得到的图像输入计算机,计算获得单位像素所代表的实际尺寸;

S3:将玉米种子纵剖,得到玉米种子剖面;

S4:将玉米种子镶嵌在玉米种子剖面图像采集板上,将玉米种子剖面向上以剔除不同玉米种子形状对剖面的影响;

S5:使用机器视觉采集系统进行玉米种子剖面图像采集,将采集的到的图像输入计算机,得到原始玉米种子剖面图像;

S6:在采集到的原始玉米种子剖面图像基础上,采用多段阈值分割技术,对玉米种子剖面图像不同区域进行分割,得到每张图像的角质、粉质区域子图像,并提取统计各区域的像素点个数;

S7:基于s2所得到的单位像素所代表的实际尺寸,计算获得玉米种子剖面角质、粉质区域的实际面积,并求出其百分比。

2.根据权利要求1所述的玉米籽粒剖面角质与粉质百分比的机器视觉定量测定方法,其特征在于:

所述的步骤s6中,通过以下步骤对原始玉米种子剖面图像进行多段阈值分割操作:

S6.1:对原始玉米种子剖面图像进行灰度处理得到灰度图像;

S6.2:分析所得灰度图像中的角质区域和粉质区域,分别得到两区域的阈值范围;

S6.3:根据分析得到的角质区域阈值范围,设定好阈值上限和下限,做一次阈值分割,得到单独的角质区域图像;

S6.4:根据分析得到的粉质区域阈值范围,设定好阈值上限和下限,做二次阈值分割,得到单独的粉质区域图像;

S6.5:分别对角质区域和粉质区域图像进行轮廓像素面积计算处理,所得到的各区域轮廓像素面积即为各区域的像素点个数。

3.根据权利要求1所述的玉米籽粒剖面角质与粉质百分比的机器视觉定量测定方法,其特征在于:采用工业CCD相机与四面无影光源相结合的方法搭建机器视觉采集系统。

4.根据权利要求1所述的玉米籽粒剖面角质与粉质百分比的机器视觉定量测定方法,其特征在于:将玉米种子镶嵌在以黑色橡皮泥构成的玉米种子剖面图像采集板上。

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