[发明专利]电晕式电荷测量装置在审

专利信息
申请号: 201410348415.8 申请日: 2014-07-16
公开(公告)号: CN104133134A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 卓朝旦 申请(专利权)人: 奉化市宇创产品设计有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 代理人:
地址: 315500 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电晕 电荷 测量 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及电荷测量领域,尤其涉及一种电晕式电荷测量装置。

背景技术

物体的静电起电过程,实际上就是电荷产生和消散的动态平衡过程。材料绝缘程度越高,静电电荷衰减时间就越长,泄漏电荷能力越弱,带电能力就越强,因而引发静电灾害的可能性就越大,所以静电电荷衰减时间和静电电荷衰减半衰期是衡量材料防静电性能的重要参数。有鉴于此,本发明提出一种电晕式电荷测量装置,通过电晕放电尖端簇向被测样品放电,使被测样品起点,然后对被测样品电荷泄露过程进行测量,记录电荷衰减过程,从而能够对研究被测样品的静电性能提供准确数据。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种电晕式电荷测量装置,包括高压直流电源、可移动平板、电晕放电尖端簇、旋叶式静电电位计、接地底盘,其中,被测样品放置于所述接地底盘上,所述可移动平板的上表面为接地金属层,中间为绝缘材料,下表面安装有电晕放电尖端簇,所述电晕放电尖端簇连接有高压直流电源,所述旋叶式静电电位计放置于所述被测样品的正上方。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例提供的电晕式电荷测量装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

图1为本发明一实施例提供的电晕式电荷测量装置的结构示意图,如图1所示,本实施例的电晕式电荷测量装置,包括高压直流电源1、可移动平板2、电晕放电尖端簇3、旋叶式静电电位计4、接地底盘5,其中,被测样品6放置于所述接地底盘上5,所述可移动平板2的上表面为接地金属层,中间为绝缘材料,下表面安装有电晕放电尖端簇3,所述电晕放电尖端簇3连接有高压直流电源1,所述旋叶式静电电位计4放置于所述被测样品6的正上方。

本实施例的装置令被测材料固定不动,喷电装置(可移动平板和电晕放电尖端簇)运动。可移动平板的上表面为接地金属层,当放电时用于屏蔽静电电位计的输入端,中间为绝缘材料,下表面安装电晕放电尖端簇。测试时,先由电晕放电尖端簇给被测样品放电,经过大约20ms的放电时间之后,迅速移除平板,旋叶式静电电位计快速响应,实时测量被测样品表面电位值,从而能够计算出静电衰减时间。本实施例装置可以直接用于测量被测样品的电荷衰减时间常数或从某一电位值衰减到另一电位值的时间,并可以利用数字存储示波器记录试样表面静电电位的衰减波形。

最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

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