[发明专利]信号处理方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种信号处理方法，应用于电子设备，其特征在于，所述方法包括：

对接收到的信号按照预设长度进行采样得到采样信号序列；

每获取预设长度的采样信号序列，确定所述预设长度的采样信号序列的采样偏差值；

确定与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的分数插值间隔和第一插值基点集合；

依据与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的第一采样偏差值，以及与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的第二采样偏差值确定与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子；

依据所述补偿因子对与所述当前获取的预设长度的采样信号序列对应的第一插值基点集合中的各个插值基点进行补偿，得到第二插值基点集合；

依据所述分数插值间隔和所述第二插值基点集合对所述当前获取的预设长度的采样信号序列进行插值滤波。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述当前获取的预设长度的采样信号序列为接收到的一帧信号的第一个预设长度的采样信号序列时，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子为零。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述依据与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的第一采样偏差值，以及与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的第二采样偏差值确定所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子包括：

当所述第一采样偏差值满足第一预设条件，且所述第二采样偏差值满足第二预设条件时，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子为与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子与1的和值；

当所述第一采样偏差值满足第三预设条件，且所述第二采样偏差值满足第四预设条件时，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子为与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子与1的差值；

否则，确定所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子等于所述与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述第一采样偏差值小于第一预设阈值，且所述第二采样偏差值大于第二预设阈值时，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子为所述与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子与1的和值；

当所述第一采样偏差值大于所述第二预设阈值，且所述第二采样偏差值小于所述第一预设阈值时，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子为所述与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子与1的差值；

否则，所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子等于所述与前一次获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子；

其中，所述第一预设阈值与所述第二预设阈值互为相反数，所述第二预设阈值大于或等于零。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二预设阈值大于或等于零，且所述第二预设阈值小于或等于0.5。

6.根据权利要求1-5任意一项所述的方法，其特征在于，所述依据所述补偿因子对与所述当前获取的预设长度的采样信号序列对应的第一插值基点集合中的各个插值基点进行补偿包括：

依据第一计算公式对与所述当前获取的预设长度的采样信号序列对应的第一插值基点集合中的各个插值基点进行补偿，所述第一计算公式为：

m′_k＝m_k+Mτ

其中，m_k为所述第一插值基点集合中第k个插值基点；m′_k为补偿后的第k个插值基点；M为进行采样误差补偿时的过采样倍数；τ为所述与当前获取的预设长度的采样信号序列对应的补偿因子。