[发明专利]发射成像设备的闪烁晶体的固定装置以及检测设备和方法

说明书

技术领域

本发明涉及发射成像系统内的部件的检测技术，具体地，涉及一种用于发射成像设备的闪烁晶体的固定装置，以及采用该固定装置的检测设备和检测方法。

背景技术

包括正电子发射成像设备的发射成像设备已经被用于医疗诊断。以正电子发射成像设备为例，其利用正电子同位素衰变产生出的正电子与人体内负电子发生泯灭效应的现象，通向人体内注射带有正电子同位素标记的化合物，采用复合探测的方法，利用检测器探测泯灭效应所产生的γ光子，得到人体内同位素的分布信息，由计算机进行重建组合运算，从而得到人体内标记化合物分布的三维断层图像。

现有的检测器主要包括三部分，如图1所示，即最下层的由离散闪烁晶体组成的晶体矩阵110、玻璃光导层120和光电倍增管(PMT)矩阵130。其中，闪烁晶体的质量对三维断层图像的重建存在不可忽视的、显著的影响，因此需要对闪烁晶体的光输出和能量分辨率等光学参数进行测试，以排除由于闪烁晶体生长以及表面处理等因素导致的不均匀性对闪烁晶体的光学性能的影响。目前对闪烁晶体的检测方式是利用光学胶水等将单个的闪烁晶体耦合至单个的PMT的下表面，并且将耦合后的闪烁晶体和PMT放置的光密箱，然后对该闪烁晶体的性能进行检测。

然而，对于一个正电子发射成像设备来说，其可能包括上百个或更多的检测器，而每个检测器上大约有150个闪烁晶体，可见每个正电子发射成像设备上的闪烁晶体的数量是庞大的。对一个闪烁晶体进行检测的时间大约为15-20分钟，因此对所生产的所有闪烁晶体进行逐条检测是不可行的，而只能采用抽检的方式。本领域的技术人员可以理解，采用抽检只是一种无奈的选择，其并不是理想的选择。

因此，有必要提出一种用于发射成像设备的闪烁晶体的固定装置，以及采用该固定装置的检测设备和检测方法，以提高闪烁晶体的检测效率。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供一种用于发射成像设备的闪烁晶体的固定装置，包括：主体，其上设置有开口向上的多个凹槽，所述多个凹槽用于分别固定多个闪烁晶体；以及液体容纳空间，其位于所述多个凹槽的上方，用于容纳光导液体，所述液体容纳空间的底部与所述多个凹槽流体连通，且顶部是开放的。

优选地，所述多个凹槽包括参考晶体凹槽和多个闪烁晶体凹槽，所述参考晶体凹槽和所述多个闪烁晶体凹槽分别用于固定所述闪烁晶体中的参考闪烁晶体和待测闪烁晶体。

优选地，所述多个凹槽中的每个的深度都大于或等于所述闪烁晶体的高度。

优选地，所述多个凹槽中的每个的内壁和底面上都设置有光反射层。

优选地，所述多个凹槽以矩阵方式排列。

优选地，所述多个凹槽排列成多行，每行内相邻的两个凹槽之间的间距相等，且相邻的两行内的凹槽错位排列。

另一个方面，本发明还提供一种用于发射成像设备的闪烁晶体的检测设备，包括：如上所述的任一种固定装置；放射源，其用于产生入射粒子；采集装置，其用于分别采集所述入射粒子经由每个所述闪烁晶体反应产生的出射粒子；可移动装置，所述可移动装置能够带动设置在其上的所述放射源和所述采集装置在所述多个凹槽的上方移动，并使所述采集装置的位于其底面的采集表面能够在所述液体容纳空间内移动；以及可打开的光密壳体，所述光密壳体内至少容纳有所述固定装置、所述放射源和所述采集表面。

优选地，所述多个凹槽之间的间距构造为使得在所述采集装置的所述采集表面与所述闪烁晶体中的一个成中心对准时仅能覆盖该闪烁晶体。

优选地，所述多个凹槽之间的间距不大于所述采集装置的所述采集表面的最大尺寸。

优选地，所述检测设备还包括容纳在所述液体容纳空间内的光导液体。

优选地，所述可移动装置能够驱动所述放射源和所述采集装置在水平方向和竖直方向上移动。

优选地，所述可移动装置还包括传感器，所述传感器用于在检测期间感测所述采集装置的所述采集表面相对于所述闪烁晶体的位置。

再一个方面，本发明还提供一种用于发射成像设备的闪烁晶体的检测方法，所述检测方法采用如上所述的任一种检测设备，所述方法包括：打开所述光密壳体；将多个闪烁晶体分别插入所述多个凹槽；向所述液体容纳空间内注入光导液体，使所述光导液体没过多个所述闪烁晶体；使所述可移动装置带动所述放射源和所述采集装置在多个所述闪烁晶体的上方移动，以对多个所述闪烁晶体进行逐条检测，所述采集装置的所述采集表面在所述检测期间处于所述光导液体的表面之下。