[发明专利]具回馈测试功能的探针模块

权利要求书

1.一种具回馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间，且包括有：

一基板，具有二连接线路以及二空间转换线路，且所述空间转换线路的一端与该印刷电路板电性连接；

一针架，设于该基板与该待测电子装置之间；

二探针，设于该针架上，且各该探针一端凸伸出该针架外与该基板的各该连接线路的一端电性连接，而另一端则凸伸出该针架外点触该待测电子装置的受测部位；

二路径转换元件，设于该针架上，且各该路径转换元件电性连接该基板的各该空间转换线路及各该连接线路的另一端；及

一电容，设于该针架上，且其两端分别电性连接该二路径转换元件。

2.如权利要求1所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该路径转换元件为一电感性元件，一端电性连接该空间转换线路，另一端则电性连接该电容与该连接线路。

3.如权利要求2所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该电感性元件为扼流圈。

4.如权利要求1所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该路径转换元件为一继电器，且具有一第一接点、一第二接点以及一第三接点，并可受控制地切换该第一接点与该第二接点导通、或该第一接点与该第三接点导通；另外，该第一接点电性连接该连接线路，该第二接点电性连接该空间转换线路，而该第三接点则电性连接该电容。

5.如权利要求1所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该二路径转换元件以及该电容设置于该针架朝向该基板的面上。

6.如权利要求5所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该针架朝向该基板的面上形成有多个凹陷处，该二路径转换元件分别位于所述凹陷处中。

7.如权利要求5所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该针架朝向该基板的面上形成有至少一凹陷处，该电容位于该凹陷处中。

8.如权利要求1所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该针架呈空心，而该二路径转换元件以及该电容设置于该针架之中。

9.如权利要求8所述具回馈测试功能的探针模块，还包含有多个导体，且该针架朝向该基板的面上具有多个穿孔：所述导体分别穿设于所述穿孔中，且一端各别连接各该路径转换元件，另一端则抵接所述空间转换线路或所述连接线路，而使所述路径转换元件电性连接所述空间转换线路及所述连接线路。

10.如权利要求9所述具回馈测试功能的探针模块，其中，各该导体为具有弹性的金属顶针。

11.一种具回馈测试功能的探针模块，设于一印刷电路板以及一待测电子装置之间，且包括有：

一基板，具有二连接线路以及二空间转换线路，且所述空间转换线路的一端与该印刷电路板电性连接；

二探针，各该探针一端与该基板的各该连接线路的一端电性连接，而另一端则点触该待测电子装置的受测部位；

二路径转换元件，设于该基板，且各该路径转换元件电性连接该基板的各该空间转换线路及各该连接线路的另一端；及

一电容，设于该基板，且其两端分别电性连接该二路径转换元件。

12.如权利要求11所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该路径转换元件为一电感性元件，一端电性连接该空间转换线路，另一端则电性连接该电容与该连接线路。

13.如权利要求12所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该电感性元件为扼流圈。

14.如权利要求11所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该路径转换元件为一继电器，且具有一第一接点、一第二接点以及一第三接点，并可受控制地切换该第一接点与该第二接点导通、或该第一接点与该第三接点导通；另外，该第一接点电性连接该连接线路，该第二接点电性连接该空间转换线路，而该第三接点则电性连接该电容。

15.如权利要求11所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该二路径转换元件以及该电容设置于该基板朝向所述探针的面上。

16.如权利要求15所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该基板朝向所述探针的面上形成有多个凹陷处，该二路径转换元件分别位于所述凹陷处中。

17.如权利要求15所述具回馈测试功能的探针模块，其中，该基板朝向所述探针的面上形成有至少一凹陷处，该电容位于该凹陷处中。

18.如权利要求11所述具回馈测试功能的探针模块，还包含有一针架设于该基板与该待测电子装置之间；另外，所述探针设于该针架上，且各该探针一端凸伸出该针架外与该基板的各该连接线路电性连接，而另一端则凸伸出该针架外点触该待测电子装置的受测部位。