[发明专利]放射线检测器有效
申请号: | 201410332523.6 | 申请日: | 2014-07-11 |
公开(公告)号: | CN104422949B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 中泽诚之 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 | 代理人: | 寿宁,张华辉 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测器 | ||
技术领域
本发明涉及一种修正湮灭放射线对(annihilation radiation pairs)的检测信号的放射线检测器,尤其涉及在构成为将放射线转换成荧光并测定该荧光的放射线检测器中,能够通过修正消除荧光的余辉影响的放射线检测器。
背景技术
对现有的使放射线药剂的分布成像的正电子发射断层显像装置(PET,Positron Emission Tomography)的具体构成进行说明。现有PET装置具备由检测放射线的放射线检测器呈圆环状排列而构成的检测器环。该检测器环检测从受检体内的放射性药剂释放出的互为反方向的一对放射线(湮灭放射线对)。
对放射线检测器51的构成进行说明。如图11所示,放射线检测器51包括:闪烁体(scintillator)52,由闪烁晶体三维地排列而成;及光检测器53,检测从被闪烁体52吸收的放射线发出的荧光。光检测器53具备由多个光检测元件呈矩阵状排列而成的检测面。而且,光检测器53的检测面与闪烁体52的一个表面光学连接。
若放射线入射至闪烁体52,则闪烁体52内部发出荧光。该荧光需要一定时间才能完全衰减。因此,若有放射线入射,则闪烁体52会持续一段时间弱发光。
因此,会出现在闪烁体52的发光未完全结束时,放射线入射至闪烁体52的情况。于是,如图12所示,检测到闪烁体52的发光重叠。将此种现象称为荧光堆积(pileup)。若产生堆积,则放射线检测器51无法准确检测放射线。
因此,一直在对堆积研究对策。例如,根据第一方法,通过依次变更基线(base line)而检测已堆积的荧光(具体请参照专利文献1)。另外,根据第二方法,通过对已堆积的荧光进行推断运算而分离成两个检测信号(具体请参照非专利文献1)。
背景技术文献
专利文献
专利文献1:美国专利第6903344号
非专利文献
非专利文献1:M.D.Haselman et.al.“FPGA-Based Pulse Pileup Correction”,NSS/MIC record Nov.13.2010
发明内容
本发明欲解决的课题
然而,现有的放射线检测存在如下问题。即,现有方法存在不完备的地方,无法充分修正荧光堆积。
首先,在依次切换基线的第一方法中,若像图13那样荧光的产生时间隔的足够远则不会有何问题。然而,若像图12那样荧光的产生时间隔的近,则在前一荧光正大幅衰减的期间,后一荧光便开始发光。根据第一方法,后一荧光的基线固定成后一个荧光即将发光之前的状态。但是,如图12的箭头所示,实际基线在后一荧光的发光期间会向负方向大幅地变动。这样,第一方法并未基于准确的基线执行荧光堆积修正。具体来说,后一荧光的基线被过高地修正,且被过高地评价。
另外,对已堆积的荧光进行推断运算的第二方法中,是算出前一荧光的衰减趋势,来修正后一荧光的检测结果。荧光衰减的情况根本无法用一次函数等单纯函数表现。因此,为了准确地分离已堆积的荧光,必须对荧光的检测结果配以(fitting)复杂函数。每当堆积产生时便要执行一次此种动作,由于运算巨大而难以实现。
本发明是鉴于此种状况研究而成,其目的在于提供一种能够更准确地修正荧光堆积的放射线检测器。
解决课题的手段
本发明为了解决所述问题而采用如下构成。
即,本发明的放射线检测器的特征在于包括:闪烁体,将放射线转换成荧光;光检测器,检测荧光;存储单元,存储将峰值与荧光强度的时间进程(time course)关联而成的表,所述峰值是放射线入射至闪烁体产生的荧光从发出到不断衰减的连续过程中的荧光强度的极大值;强度数据监控单元,基于光检测器的输出,产生表示荧光强度的强度数据,并经时地进行监控;峰值获取单元,基于强度数据监控单元输出的强度数据获取峰值;堆积产生判定单元,基于强度数据的经时变化对堆积的产生进行判定,所述堆积是在放射线入射至闪烁体而产生的荧光不断衰减的过程中放射线再次入射至闪烁体,连续衰减的荧光强度再次增大的现象;以及推断单元,若判定堆积产生,则从存储单元读出与峰值获取单元获取的即将产生堆积之前的峰值对应的时间进程,并从强度数据监控单元输出的强度数据的经时变化中减去时间进程,从而推断堆积产生后的荧光强度的经时变化。
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