[发明专利]一种基于AOI的子弹表观缺陷检测系统的图像二值化分割方法

权利要求书

1.一种基于AOI的子弹表观缺陷检测系统的图像二值化分割方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)通过AOI系统获得子弹表观的原始灰度图像f(x,y)；

(2)在原始灰度图像f(x,y)中按便于区分的要求取一个点的灰度值T作为阀值；

(3)将所有像素点的灰度值与阀值T比较，将大于或等于阀值T的像素点的灰度值重新设为1，将小于阀值T的像素点的灰度值重新设为0，获得二值化后的图像

2.根据权利要求1所述的一种基于AOI的子弹表观缺陷检测系统的图像二值化分割方法，其特征在于，所述步骤(2)中确定灰度值T的具体方法如下：

(2a)设N为整幅图像中像素总个数，整个图像的灰度值范围从0到L，当整个图像中灰度级为i的像素个数为n_i时，则相应的几率为p_i＝n_i/NL,i＝0,1,2,…,L-1且

(2b)假设阈值为T，把图像按照阈值T分为两部分：C₀表示灰度值小于阈值T的全部像素点，C₁表示灰度值大于阈值T的全部像素点，根据整体的灰度分布几率，整体像素的均值为则C₀和C₁的均值为μ0=Σi=0Tipi/w0]]>和μ1=Σi=T+1L-1ipi/w1,]]>其中w0=Σi=0Tpi,w1=Σi=T+1L-1pi=1-w0;]]>

(2c)由上述推导得u_T＝w₀μ₀+w₁μ₁，方差σB2=w0(μ0-μT)2+w1(μ1-μT)2=w0(μ02+μT2)+μT2(w0+w1)-2(w0μ0+w1μ1)μT=w0μ02+w1μ12-μT2=w0μ02+w1μ12-(w0μ0+w1μ)2=w0μ02(1-w0)+w1μ12(1-w1)-2w0w1μ0μ1=w0w1(μ0-μ1)2;]]>

(2d)在[0,L-1]的灰度值范围内调整T的值，当方差取得最大值时，T为最佳的阈值。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于AOI的子弹表观缺陷检测系统的图像二值化分割方法，其特征在于，所述步骤(2)中取阀值T前，先对原始灰度图像进行去除噪声或/和对比度增强处理。