[发明专利]一种用于子弹表观缺陷检测的AOI系统的缺陷特征提取与识别方法

说明书

技术领域

本发明涉及图像特征提取识别领域，特别是涉及一种用于子弹表观缺陷检测的AOI系统的缺陷特征提取与识别方法。

背景技术

AOI(Automatic Optic Inspection)，又称为自动光学检测，是以运动机器视觉作为基础技术，作为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点，提高光学影像检测系统精度和速度而诞生的一门技术。

现有技术中未见到有将AOI系统针对子弹表观缺陷检测进行的应用，虽然用光学方式获得被测物体图形，并采用传感器获取被测物照明后的数字图像，在对图像进行处理后进行比较、分析和判断是AOI技术的基本原理，但在针对子弹表观缺陷检测时如何提取缺陷特征并予以识别在技术方面仍是一片空白。

发明内容

为了解决上述现有技术中的问题，本发明提供一种设计合理、检测全面的用于子弹表观缺陷检测的AOI系统的缺陷特征提取与识别方法。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种用于子弹表观缺陷检测的AOI系统的缺陷特征提取与识别方法，包括如下步骤：

(1)通过AOI系统获得子弹表面图像，并以此获得连通域标记图像；

(2)根据子弹表观缺陷检测的期望预设待检的已知缺陷种类，并获取判定每种缺陷所需的图像特征；

(3)将所有所需的图像特征与连通域标记图像的参数进行关联，转化为相应的计算通式，并预设图像特征的标准阀值；

(4)对连通域标记图像上的每个连通域进行图像特征计算，将结果与标准阀值对比，确定缺陷的类型。

其中，所述步骤(1)中采用区域增长法或标记算法获得连通域标记图像。

进一步地，所述步骤(2)中的所有图像特征至少包括连通域的面积、重心、外接矩阵、缺陷长轴、缺陷倾角、缺陷长宽比和灰度值。

更具体的，所述步骤(3)中图像特征对应的计算通式分别如下：

在连通域标记为i的缺陷区域面积其中(x,y)表示像素点的坐标，R_i为被标记为i的所有像素点的集合；

缺陷区域的重心中，横坐标均值为纵坐标均值为y‾i=1SiΣ(x,y)∈Riy;]]>