[发明专利]一种中心式快门闭合时间的检测方法

说明书

技术领域

本发明属于航空航天成像技术领域，提供了一种镜间中心式快门闭合时间的检测方法。 

背景技术

中心式快门在航空立体测绘成像领域有着广泛应用。中心式快门的闭合时间影响航摄成像质量，是衡量中心式快门性能的重要指标，对相机最短有效曝光时间起决定性作用。中心式快门闭合过程检测通常采用光敏三极管，快门闭合过程中光敏三极管感光区接收到的光通量发生变化，导致光敏三极管输出电压变化，通过检测光敏三极管输出电压的变化来确定快门闭合过程，这种检测方法只能给出快门闭合的概略过程，难以确定快门失去曝光条件的准确时间。 

发明内容

针对背景技术存在的问题，本发明设计了一种中心式快门闭合时间的准确检测方法。本发明利用面阵CCD(光电耦合器件)检测快门闭合时间。在恒定均匀照度条件下，面阵CCD像元曝光量与曝光时间呈线性关系；在测得面阵CCD像元感光速度的条件下，根据快门闭合过程中通光区对应像元的曝光量，可计算出快门闭合的准确时间。 

本发明解决技术问题所采用的技术方案如下： 

一种中心式快门闭合时间的检测方法，该方法包括如下设备：光源、中心式快门和面阵CCD，将待检测中心式快门紧临面阵CCD感光区放置，使快门与面阵CCD间紧密结合，无漏光区域；快门前放置均匀恒定照度光源，该方法包括如下步骤： 

步骤一：面阵CCD第一次曝光时输出图像灰度值为A_ij，曝光时间为t₁；第二次曝光时输出图像灰度值为B_ij，曝光时间为t₂(t₂＞t₁)，设两次成像对应像元灰度值之差为C_ij，即C_ij＝B_ij-A_ij； 

步骤二：将C_ij中数据按从大到小次序排列得到序列M_i；设快门总通光 区对应像元的数量为N_T，N_T可由计算，其中为取整函数，S_T为快门总通光区面积，S_P为面阵CCD单个像元面积；序列M_i前N_T个数据为快门总通光区像元对应的灰度数据，g_M取为序列M_i前N_T个数据的均值 gM=1NT×Σi=1i=NTMi,]]>利用式可得出面阵CCD像元的感光速度v； 

步骤三：设快门闭合过程中通光区面积达到总通光区面积p％时失去曝光条件，快门失去曝光条件时通光区对应像元数量N_S可由计算； 

步骤四：将A_ij中数据按从大到小顺序排列得到序列R_i；快门失去曝光条件时通光区对应的N_S个像元的灰度值为序列R_i的前N_S个数据，快门失去曝光条件时通光区对应像元灰度值g_N取为

步骤五：快门刚开始闭合时通光区对应像元灰度值g_B为快门总通光区边缘对应像元的灰度值，g_B可由R_i式计算；利用可得到快门从开始闭合到失去曝光条件的准确闭合时间。 

本发明的有益效果是：本发明为相机航摄成像像移量控制提供了重要依据。本中心式快门闭合时间检测方法简单，易于实施，闭合时间检测精度优于0.1ms。面阵CCD的清电荷功能可以消除快门开启过程对检测结果的影响，为准确检测快门闭合时间提供了保障。 

附图说明