[发明专利]时钟抖动和电源噪声分析在审

专利信息
申请号: 201410318344.7 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104283531A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 瓦吉斯·乔治;鲁贝尔·艾哈迈迪;杰西·M·格斯 申请(专利权)人: 辉达公司
主分类号: H03K5/22 分类号: H03K5/22;H03K5/26;H03K5/135
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 董巍;谢栒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 时钟 抖动 电源 噪声 分析
【说明书】:

技术领域

本公开总地涉及数据处理设备,并且更具体地,涉及检测并分析噪声标志(signature)的方法、设备和/或系统。

背景技术

信号处理的应用是广泛的并且不断增加。信号处理应用的示例包括移动设备对消息的发射和接收、语音识别和用来为CPU和GPU的内部操作定时的时钟信号。

信号可以包括多个频率。组成信号的一部分的最低频率已知为信号的基频。信号还可以包括不需要的分量,称为噪声。信号中的噪声的存在可降低应用中的信号性能。噪声信号可传送错误的或不完整的信息。噪声可具有可被认为是标志的特定特性。例如,噪声可被表征为低频或高频。低频噪声可以是以低于信号的基频的频率出现的噪声。高频噪声则可以是除低频噪声之外的所有噪声。检测并分析噪声标志可使得噪声的来源能够被确定、消除和/或降低。

发明内容

所公开的是检测并分析噪声标志的方法、设备和/或系统。

在一个方面,公开检测并分析噪声标志的方法。在该方面,方法包括由噪声分析器接收第一信号。此外,方法可以涉及通过噪声分析器基于第一信号生成第二信号以及通过基延迟将第二信号时间移位(displace)一基延迟时间。在一个方面,方法可以进一步涉及通过比较器将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较,其中第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生成的第二信号的版本。

在另一方面,公开检测并分析噪声标志的系统。在该方面,系统包括信号发生器,其配置为接收第一信号并且基于第一信号生成第二信号。在一个方面,系统可以进一步包括基延迟元件,其配置为将第二信号时间移位第一时间延迟;多个精细延迟元件,其配置为将第二信号进一步时间移位至少一个精细时间延迟;以及比较器,其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较,其中第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生成的第二信号的版本。

在另一方面,公开检测并分析噪声标志的噪声分析器。在一个方面,噪声分析器可以包括信号发生器,其配置为接收第一信号并且基于第一信号生成第二信号。在一个方面,系统可以进一步包括基延迟元件,其配置为将第二信号时间移位第一时间延迟;以及比较器,其配置为将经时间移位的第二信号的实际测量与第三理论信号的理论测量相比较,其中第三理论信号是如果第一信号无高频噪声和低频噪声这二者的话原本将从第一信号生成的第二信号的版本。

本文所公开的方法和系统可以以任何手段加以实现以达成各种方面,并且可以以将指令集具体化的非暂时性机器可读介质的形式加以执行,该指令集当由机器执行时使机器实施本文所公开的任何操作。其他特征将从附图和跟随的详细描述中显而易见。

附图说明

本发明的实施例通过示例而非限制的方式示出在附图的各图中,在附图中类似的参考指代相似的元件,在附图中:

图1示出根据一个或多个实施例的噪声分析器的框图。

图2是根据一个或多个实施例的、示出无噪声模拟信号的波形,并且其示出沿着波形的、噪声分析器可以在此处对信号进行测量的点。

图3A是根据一个或多个实施例的、示出与无噪声模拟信号相比的高频噪声的波形。

图3B是根据一个或多个实施例的、示出与无噪声模拟信号相比的低频噪声的波形。

图3C是根据一个或多个实施例的、示出信号和高频噪声的组合的波形。

图3D是根据一个或多个实施例的、示出信号和低频噪声的组合的波形。

图3E是根据一个或多个实施例的、示出信号与低频噪声和高频噪声的组合的波形,并且示出可由噪声分析器进行的测量的位置。

图4A是根据一个或多个实施例的、示出可表示无噪声数字时钟信号的方波的波形。

图4B是根据一个或多个实施例的、示出从图4A的方波所生成的信号的波形。

图4C是根据一个或多个实施例的、示出被移位基延迟的图4B的信号以及可由噪声分析器进行的测量的位置的波形。

图4D是根据一个或多个实施例的一系列波形;波形“s”可以表示初始信号,波形“mts”可以表示元信号(metasignal),其可被创建自包含在初始信号中的信息,并且波形D1到D8可以表示mts的经延迟版本。

图4E是根据一个或多个实施例的、来自图4D的D1波形的一段的放大细节。

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