[发明专利]一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410316306.8 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN104078564A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 毛巍威;李兴鳌;王兴福;韩玉敏;全楚烨;杨建波 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 江苏爱信律师事务所 32241 代理人: 唐小红
地址: 210023 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 掺杂 铁酸铋 存储器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征包括有四层,依次是:衬底(1)、底电极(2)、阻变存储层(3)和顶电极(4);

衬底(1)为半导体材料或者玻璃等材料;底电极(2)和顶电极(4)为金属材料;阻变存储层(3)为掺杂铁酸铋薄膜。

2.根据权利要求1所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征在于所述的底电极(2)和顶电极(4)的金属材料可以是金属:Au、Pt、Ag、Cu、Al、Ti,厚度为100nm到200nm。

3.根据权利要求2所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征在于所述的阻变存储层(3)的掺杂铁酸铋薄膜是A位单掺杂,所述A位掺杂元素为稀土金属元素和碱土金属元素。

4.根据权利要求3所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征在于所述的稀土金属元素可以是:La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er;所述的碱土金属元素可以是:Mg、Ca、Sr、Ba。

5.根据权利要求2所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征在于所述的变存储层(3)的掺杂铁酸铋薄膜是A位与B位共掺杂,B位掺杂元素可以是3d过渡金属元素。

6.根据权利要求5所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器,其特征在于所述的3d过渡金属元素可以是:V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu,厚度为200nm到500nm。

7.根据权利要求1所述的一种基于掺杂铁酸铋的阻变存储器的其制备方法,其特征在于:

a.用固相反应法制备掺杂的铁酸铋,烘干、预烧结、造粒、压片后再高温烧结得到陶瓷靶材;

b.选择合适衬底(1),利用磁控溅射的方法制备金属底电极(2),氩气为工作气体;

c.在制备好的底电极(2)上利用磁控溅射的方法沉积掺杂铁酸铋薄膜作为阻变存储层(3),氩气和氧气为工作气体,氧气与氩气的比例为1/10;

d.最后在利用磁控溅射的方法制备金属顶电极(4),氩气为工作气体。

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