[发明专利]二极管的制造方法有效

专利信息
申请号: 201410314806.8 申请日: 2014-07-03
公开(公告)号: CN105304486B 公开(公告)日: 2019-04-30
发明(设计)人: 赵圣哲 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100871 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 二极管 制造 方法
【说明书】:

发明提供一种二极管的制造方法,包括:在外延层中形成N型区;在所述外延层和N型区的表面形成氧化层;对所述氧化层进行刻蚀,以将所述外延层中待形成沟槽部分和待形成P型区部分表面的氧化层去除;对所述待形成沟槽部分进行刻蚀,以形成沟槽;在所述待形成P型区部分形成P型区;在形成有所述N型区和所述P型区的外延层上形成介质层和金属层,以形成所述二极管。本发明提供的二极管的制造方法,能够提高二极管的成品率。

技术领域

本发明涉及半导体制造技术,尤其涉及一种二极管的制造方法。

背景技术

在电子电路中,二极管是最常用的电子元器件之一,以其单向导通的特性在电路中常用作整流器件。且在电力电子电路中,二极管反向并联在功率开关器件的两端,配合功率开关器件实现对电压信号进行调整。无论在电子电路还是电力电子电路中,二极管的作用都是不容忽视的,二极管的质量好坏都会影响电路的整体运行效果。

现有的二极管的制造过程通常为:首先在外延层上刻蚀形成沟槽,然后在外延层和沟槽的表面均涂覆正性光刻胶,采用曝光显影的方式将待形成P型区的部分表面的光刻胶去除,之后依次形成P型区和N型区,最后淀积形成介质层和金属层,从而形成二极管。由于沟槽具有一定的深度,在对待形成P型区表面的光刻胶进行曝光的过程中,曝光量较难调整至合适的强度以去除其表面的光刻胶,即经常会出现曝光量不足或者过大等问题。具体的,若曝光量不足,则会导致沟槽底部的光刻胶由于光强度不够不易发生变性,进而不易在显影的过程中被去除掉;若曝光量过大,则会使得除待形成P型区表面之外的其余部分的光刻胶也发生变性,进而在显影过程中被去除掉。上述两种情况都会对形成P型区的过程产生影响,进而影响了二极管的质量。因此,现有的制造方法较难获得质量较高的二极管,成品率较差。

发明内容

本发明提供一种二极管的制造方法,用于提高二极管的成品率。

本发明实施例提供一种二极管的制造方法,包括:

在外延层中形成N型区;

在所述外延层和N型区的表面形成氧化层;

对所述氧化层进行刻蚀,以将所述外延层中待形成沟槽部分和待形成P型区部分表面的氧化层去除;

对所述待形成沟槽部分进行刻蚀,以形成沟槽;

在所述待形成P型区部分形成P型区;

在形成有所述N型区和所述P型区的外延层上形成介质层和金属层,以形成所述二极管。

如上所述的二极管的制造方法,在所述待形成沟槽部分进行刻蚀,以形成沟槽之前,所述方法还包括:

在所述待形成P型区部分的表面形成氮化硅墙。

如上所述的二极管的制造方法,在所述待形成P型区部分的表面形成氮化硅墙,包括:

在所述待形成P型区部分以及待形成沟槽部分的表面形成氮化硅层;

对所述氮化硅层进行刻蚀,去除所述待形成沟槽部分表面的氮化硅层,以在所述待形成P型区部分的表面形成氮化硅墙。

如上所述的二极管的制造方法,在外延层中形成N型区,包括:

在所述外延层的表面涂覆胶体,以形成胶层;

去除待形成N型区部分表面的胶体;

对所述待形成N型区部分注入N型离子,以形成N型区。

如上所述的二极管的制造方法,在所述待形成P型区部分形成P型区,包括:

在所述待形成P型区部分注入P型离子;

对所述P型离子进行驱入,以形成P型区。

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